第一章
第一节
1 半导体三大特性
搀杂特性
热敏特性
光敏特性
2 本征半导体 是纯净(无杂质)的半导体。
3 载流子 (Carrier) 指半导体结构中获得运动能量的带电粒子。
有温度环境就有载流子。
绝对零度( -2730C )时晶体中无自由电子。
4 本征激发 (光照、加温度),会成对产生电子空穴对
自由电子 (Free Electron)
空穴 (Hole)
5 N 型半导体 :电子型半导体
多子 (Majority) :自由电子 (Free Electron)
少子 (Minority) :空 穴 (Hole)
自由电子数 = 空 穴 数 + 施主杂质数
6 P 型半导体 :空穴型半导体
多子 (Majority) :空 穴 (Hole)
少子 (Minority :自由电子 (Free )
空 穴 数 = 自由电子数 + 受主杂质数
7 对 N 型半导体
Nn Pn· = ni 平方
- 1 -
其中: nn 为多子 , Pn 为少子
ni2 为本征载流子浓度
同理, P 型半导体
8 结论
杂质半导体 少子浓度
– 主要由 本征激发( Ni2 )决定 的(和温度有关)
杂质半导体 多子浓度
– 由搀杂浓度决定(是固定的)
9 本征半导体中电流
半导体中有两种电流
– 漂移电流 (Drift Current)
– 是由电场力引起的载流子定向运动
– I =In + Ip
其中 In 为电子流, Ip 为空穴流
In 和 Ip 的方向是一致的。
– 扩散电流 (Diffusion Current)
– 是由于载流子浓度不均匀(浓度梯度)所造成的。
– 由上式可见扩散电流正比于浓度分布线上某点处的斜率 dn(x)/dx 或 dp(x)/dx 。
– 扩散电流与浓度本身无关。
第二节 PN 结
1 PN 结是 指使用半导体工艺使 N 型和 P 型半导体 结合处所形成的 特殊结构。
PN 结是构成半导体器件的 核心结构。
空间电荷区 耗尽层 自建电场 势垒区 阻挡层。
2 PN 结形成 “三步曲 ”
(1)多数载流子的 扩散运动。
(2 )空间电荷区和少数载流子的 漂移运动。
(3)扩散运动与漂移运动的 动态平衡。
3 势垒区 PN 结建立在 N 型和 P 型半导体的结合处, 由于扩散运动, 失空穴和电子后形成不能移动的负离子和正离
子状态,这个区域称为空间电荷区(耗尽层) 。
PN 结又称为
– 自建电场、
– 阻挡层。
4 当外加电压时, PN 结的结构将发生变化 (空间电荷区的宽窄变化)
正向偏置
- 2 -
P 接电源正, N 接电源负
? 外电场与内电场方向相反(削弱内电场) ,使 PN 结变窄。
? 扩散运动>漂移运动。
? 称为 “正向导通 ”。
反向偏置
P 接电源负, N 接电源正
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