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1、 目的:
为了使带有金手指的产品能够满足客户的品质要求,特制定此检验标准。
2、 适用范围:
本标准适用于本公司所生产的所有带金手指的产品,包括 IQC的进料检验与 QA的出货检验。
3、 定义:
严重缺陷(CR):指产品的不良将会造成产品无法使用,以及造成功能性的故障。
主要缺陷(MA):指产品的不良或许会导致产品功能性发生问题,但目前尚未发生问题者,有潜在危害性者。
次要缺点(Ml):指产品的不良,虽然与理想标准有所差异,但其产品使用性实质上不受影响。
关键接触区:从 PCB板边起,至U金手指的 80%区域为关键接触区,其它区域为非关键区。
4、 检验方法:
外观检验以在光照强度为 800-1200LUX,检视距离为250mm-300mm检视角度为45-55 °的条件下目视判定,
遇有缺点可以3~5倍放大镜确认。在关键接触区内所发生之缺点,依其现象可分为(CR)严重缺陷、(MA)主要缺陷、 (Ml)次要缺陷。若发生于非关键接触区则所有 CR缺陷均视为MA缺陷。
5、 检验标准:
检验标准要求
刮伤不露底材,单面不超过 1/5个金手指,无明显凹陷为 Ml,可接受;否则为 MA不可接受。
刮伤露底材为MA不可接受。
凹陷点在关键接触区內不超过 0.15mm,非关键区内不超过 0.3mm,每个金手指上的缺陷不超过 3
处,且有缺陷的金手指不超过金手指总数的 30%为MI,可接受;
凹陷点在关键接触区內超过 0.15mm,非关键区内超过 0.3mm,每个金手指上的缺陷超过 3处,且
有缺陷的金手指超过金手指总数的 30%为MA不可接受;
沾锡点(锡铅点)在关键接触区内不超过 0.15mm,非关键区内不超过 0.3mm,每个金手指上的缺陷
不超过3处,且有缺陷的金手指不超过金手指总数的 30%为MI ,可接受;
沾锡点(锡铅点)在关键接触区内超过 0.15mm,非关键区内超过0.3mm,每个金手指上的缺陷超过
3处,且有缺陷的金手指超过金手指总数的 30%为MA不可接受;
金手指沾污无法以橡皮擦擦除者:在关键接触区内不超过 0.15mm,非关键区内不超过 0.3mm,每
个金手指上的缺陷不超过 3处,且有缺陷的金手指不超过金手指总数的 30%为MI ,可接受;
金手指沾污无法以橡皮擦擦除者;在关键接触区内超过 0.15mm,非关键区内超过 0.3mm,每个金
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手指上的缺陷超过 3处,且有缺陷的金手指超过金手指总数的 30%为MA不可接受;
金手指变色无法以橡皮擦除掉者为 MA拒收。
金手指镀金、镀镍厚度不足为 MA拒收。
金手指有底材外露之現象者为 MA拒收。
金手指表面有插拔痕迹可接受,但露底材者为 MA拒收。
端点导线残留铜屑 or拉离者为MA拒收。
金手指缺口超过 20%金手指宽者为 MA拒收;缺口未超过 20%金手指宽,每面不超过两处者为
Ml,可接受;未超过 20%金手指宽,但每面超过两处以上者为 MA不可接受。
侧向突出使得金手指间距减少不超过 1/3者为Ml,可接受;超过1/3者为MA,不可接受。
金手指表面有残胶者为 MA,拒收。
金手指镀层脱落不可接受(MA)。
金手指的边缘平滑、无毛刺、无粗糙边缘、镀层不起翘,金手指与基材无分离(分层) ,金手指
的倒角斜边上无松散的纤维,可接受;否则不可接受 (MA)。金手指末端有露铜可接受 (Ml)。
具体判定标准如下:
1.刮伤:
刮伤露底材,不可接受(MA);刮伤未露底材,在单面不超过
刮伤露底材,不可接受(MA);刮伤未露底材,在单面不超过 1/5个金手指以上可接受(Ml),否则不可接受(MA)。
刮伤露底材or刮伤未露底材,但金 描述 轻微刮/擦伤(金面无凹陷现象) 刮伤未露底材
面有多道明显凹陷
判定
判定
轻微擦伤,金面无凹陷现象,可接受 标准
刮伤未露底材,在单面不超过 1/5个金手指任一处刮伤露底材及多道明显
金手指以上可接受,否则不可接受 凹陷
2.凹陷点:
关键接触区內不超过 0.15mm,非关键区内不超过 0.3mm,每个金手指上的缺陷不超过 3处,且有缺陷的金手指不超过金手指总数
的30冏接受(Ml);否则不可接受为(MA)。
5.金手指变色无法以橡皮擦擦掉者拒收 (MA)
描述 污染/变色,无法以橡皮擦擦掉者 污染/变色,无法以橡皮擦擦掉者 污染/变色,无法以橡皮擦擦掉者
判定
无法以橡皮擦擦掉者,不可接受无法以橡皮擦擦掉者,不可接受无法以橡皮擦擦掉者,不可接受 标准
无法以橡皮擦擦掉者,不可接受
无法以橡皮擦擦掉者,不可接受
金手指有底材外露之现象者拒收 (MA)
金手指镀金、镀镍厚度不足都拒收 (MA)
金手指表面有插拔痕迹可接受,但露底材者拒收(MA)。
样品
图片
描述
判定
标准
插拔造成凹陷
无露底材可接受
露线
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