带电设备红外诊断应用规范_图文.ppt

带电设备红外诊断应用规范_图文;前 言; 　　本标准给出了使用红外热低像检测带电设备的方法、仪器要求、仪器适用范围、缺陷的判断依据及红外数据的管理规定等，使用红外测温仪（点温仪）可参照本标准执行。 本标准适用于具有电流、电压致热效应或其他致热效应的各电压等级设备、包括电机、变压器、电抗器、断路器、隔离开关、互感器、套管、电力电容器、避雷器、电力电缆、母线、导线、绝缘子、组合电器、低压电器及二次回路。 　? ;2 规范性引用文件;3.1 温升 被测设备表面温度和环境温度参照不同部位之间的温度差。 3.2 温差 不同被测设备或同一被测设备不同部位之间的温度差。 3.3 相对温差 两个对应测点之间的温差及其中较热点的温升之比的百分数。相对温差δt可用下式求出： δt=（τ1-τ2）/τ1×100%=（T1- T2）/（T1- T0）×100% 式中：τ1和T1—发热点的温升和温度； τ2和T2—正常相对应点的温升和温度； T0—环境温度参照体的温度。;3.4 环境温度参照体 用来采集环境温度的物体。它不一定具有当时的真实环境温度，但具有及被检测设备相似的物理属性，并及被测设备处于相似的环境之中。3.5 一般检测 适用于用红外热像仪对电气设备进行大面积检测。3.6 精确检测 主要用于检测电压致热型和部分电流致热型设备的内部缺陷，以便对设备的故障进行精确判断。; 3.7 电压致热型设备由于电压效应引起发热的设备。 介质损耗（介损）增大引起的发热 由固体或液体（如油等）电介质构成的绝缘结构也是许多高压电气设备的重要组成部分。用作电器内部或截流导体附近电气绝缘的电介质材料，在交变电压作用下引起的能量损耗，称为介质损耗，由此产生的损耗发热功率表示为： P＝U2Cωtgδ U：为施加的电压，V；ω为交变电压的角频率；C为介质和等值电容，F；tgδ为绝缘介质损耗因数或介质损耗角正切值； ;电压致热型设备－介损引起发热;220kV避雷器受潮故障;电压致热型设备－介损引起发热;220KV合成绝缘子芯棒端部受潮 ;220KV电容式电压互感器电磁单元不工作（中间互感器一次断线） ;电容式电压互感器;电容式电压互感器;220KV耦合电容器下节电容器介损偏高发热 ;移相电容器 ;长沙榔梨变110KV刀闸支柱绝缘子中部开裂 ;长沙黎托变10KV电抗器支撑瓷瓶上部有小裂纹 ;电压致热型缺陷-支柱绝缘子;20;3.8 电流致热型设备由于电流效应引起发热的设备。 电阻损耗增大发热性故障 电力系统导电回路中的金属导体都存在相应的电阻，因此当通过负荷电流时，必然有一部分电能按焦耳－楞茨定律以损耗的形式消耗掉。由此产生的发热功率： P＝KfI2R P为发热功率　W；Kf为附加损耗系数；I为通过的负荷电流，　A；R为截流导体的直流电阻，Ω。 Kf－在交流电路中计及趋肤效应和邻近效应时使电阻增大的系数。;电流致热性设备;电流致热性设备;云田500kV电流互感器柱头接触不良缺陷;3.9 综合致热型设备既有电压效应，又有电流效应，或者电磁效应引起发热的设备。 铁磁损耗（铁损）增大故障 由绕组或磁回路组成的高压电气设备，由于铁芯的磁滞、涡流产生的损耗称为铁磁损。如果由于设备结构设计不合理、运行不正常，或者由于铁芯材质不良，铁芯片间绝缘受损，出现局部或多点短路，引起磁滞或磁饱和在铁芯片间短路处生产短路环流，增大铁损并导致局部过热。对于变压器、电抗器，还会在铁制箱体产生涡流发热。由于交变磁场的作用，电器内部或截流导体附近的非磁性导电材料制成的零部件有时也会产生涡流损耗。; 铁磁损耗致热性设备; 电压分布异常和泄漏电流增大致热性;缺油及其他故障;缺油及其他故障;4.1 人员要求 红外检测属于设备带电检测，检测人员应具备如下条件： 熟悉红外诊断技术的基本原理和诊断程序，了解红外热像仪的工作原理、技术参数和性能，掌握热像仪的操作程序和使用方法； 了解被检测设备的结构特点、工作原理、运行状况和导致设备故障的基本因素； 熟悉本标准，接受过红外热像检测技术培训，并经相关机构培训合格； 具有一定的现场工作经验，熟悉并能严格遵守电力生产和工作现场的有关安全管理规定。;4.2 安全要求 （1）应严格执行安全工作规程； （2）应严格执行发电厂、变（配）电站及线路巡视的要求； （3）应有专人监护，监护人在检测期间应始终行使监护职责，不得擅离岗位或兼任其他工作。;4.3 检测环境条件要求 4.3.1 一般检测要求 （1）被检设备是带电运行设备，应尽量避开视线中的封闭遮挡物，如门和盖板等； （2）环境温度一般不低于5℃，相对湿度一般不