基于存储荧光成像板的工业计算机射线照相检测I IPx测量实例、测试 CR 质量指示模块示例、各种测试和测试方法的应用指南.pdfVIP

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  • 2021-03-29 发布于河南
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基于存储荧光成像板的工业计算机射线照相检测I IPx测量实例、测试 CR 质量指示模块示例、各种测试和测试方法的应用指南.pdf

GB/T 21355—XXXX/ ISO 16371-1:2011 A 附 录 A (资料性) I 测量实例 IPx 下面的IP 系统类别不涉及任何特定制造商的存储磷光成像板。从IP 1 到IP 6 的不同IP 类型指的 是任何制造商的CR 系统都要求(在性能参数中)符合这六个特定类别。 例如,一个制造商提供的单一IP 或CR 系统有可能满足所有六个类别。采用“胶片射线照相技术”, 每个特定的胶片类型只有一个系统类(见ISO11699-1)。而采用计算机射线照相技术,理论上同一个IP 可符合所有六个类别。这是由于计算射线照相技术相对于胶片/屏系统的动态范围更大。短的曝光可通 过灵敏的读出扫描补偿。分类通常较低(例如IP6 )。相同的IP 板可给予更多

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