LED失效分析报告-图文(精).docxVIP

精品文档 精品文档 PAGE PAGE #欢迎下载 上海科锐光电发展有限公司 XPE失效分析报告 申请单位：北京市京电变电工程处 申请代号：SH-FA-00311 申请日期：2011.07.11 鉴定员：SA60019 审核：SA60025 一、基本情况 收到客户-北京市京电变电工程处，1盏XPE灯具（参见图-1 ），要求分析 XPE失效的原因。 送检XPE灯具图-1 、原因分析 1、电学特性 通过晶体管特性仪检测，所有 XPE均无法点亮，其电学特性为短路（参见图- 2）。 送检失效XPE电特性图-2 2、显微镜检测 取出二颗肉眼观察具代表性的LED进行高倍显微镜观察，失效XPE-NO金线 周围的硅胶有膨胀现象（参见图-3红圈”处），及芯片电极处有明显发黑现象（参 见图-3 ）。 膨胀现象说明： LED的金线处过热，曾受到过电冲击；电极处发黑现象说明: LED受到严重的过电冲击 从XPE-NO冲暂时无法观察到有明显的损坏痕迹，需进一步解剖（参见图 4）。 送检失效XPE-NO放大图-3送检失效XPE-N02放大图-4 3、解剖 剥去失效XPE的硅胶透镜后，XPE-NO芯片电极处发黑，再次说明: 该LED曾受过电严重的过电冲击（参见图-5 ）。 XPE-NO2金线端的电极处及芯片上的电极处，均发现部分发黑痕迹，此现象说 明：该LED受到过电冲击（参见图-6红圈”处）。 精品文档 精品文档 -7 PAGE -7 PAGE #欢迎下载 送检失效XPE-NO芯片图-5送检失效XPE-N02芯片图-6 4、驱动电源检测分析: 连接方式为驱动电源+XPE灯板（灯板为客户寄来的完好的 XPE灯板），用示 波器在0.1?上监视得到开机后的冲击电流约在 2.25A （50mV*4.5 / 0.1 ?）以上 （参见图-7 ）。 检测纹波电流较大，超过50% （参见图-8） 该电源的纹波电流及瞬间的冲击电流可能是导致 XPE损坏的原因之一 瞬间冲击电流图 精品文档 精品文档 8 8欢迎。下载 精品文档 精品文档 PAGE PAGE #欢迎下载 TRIGGER类型边沿L lu\丿\rAl TRIGGER 类型 边沿 L lu \丿\ rAl T \/ \ :州 \ 信源 CHI 斜率 触发方式 自动 lek 几 ? Stop M Pos: 0.000s + M 10.0ms 15-Jul-1116:05 ? St 纹波图-8 三、 结论 从上述现象分析得：造成XPE短路的主要原因是由于EOS导致的LED失效＜ 四、 免责声明 本报告为CREE非正式文档，任何正式报告仅由 CREE总部提供。本分析报告 的目的旨在协助客户进行样品分析，仅供客户查找相关灯具失效原因所用。若客户 将本报告适用于其他途径，所造成的任何损失均与 CREE无关。 本报告最终解释权归上海科锐光电发展有限公司所有。 上海科锐光电发展有限公司 技术中心 2011-07-18