CCD成像DR、线扫描成像DR设备性能检测操作细则.docxVIP

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  • 2021-05-22 发布于云南
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CCD成像DR、线扫描成像DR设备性能检测操作细则.docx

第 第 PAGE 1 页 共 NUMPAGES 9 页 CCD成像DR、线扫描成像DR设备性能检测操作细则 为规范实施普通数字X射线摄影(DR)设备性能检测,参照行标WS 76-2020《医用X射线诊断设备质量控制检测规范》,结合我单位检测设备,制定《数字X射线摄影(DR)设备质量控制检测操作细则》。 本细则采用Ray Safe X2多功能数字测量仪及辅助设备,模体进行检测,检测时按照说明书及实际情况进行操作。细则顺序按照检测最优化检测流程进行排序。 通用检测项目 1.管电压指示的偏离(验收/状态)、曝光时间指示的偏离(验收)、有用线束半值层(验收/状态) 将数字X射线摄影(DR)设备球管与探测板垂直,调节高度,使球管中心与诊断床的距离为1m,即SID为1m。探头下方放一块铅板,设置光野10cm×10cm,中心线束与台面垂直。打开Ray Safe X2主机,连接R/F探头,并置于光野焦点中心。 验收检测: ①管电压指示的偏离 设置临床常用管电流时间积,分别在大小焦点条件下,至少应进行60kV、80kV、100kV、120kV各档测量,并根据偏差公式计算。 ②曝光时间指示的偏离 设置管电压为80kV,适当的管电流时间积,分别检测≥100ms和100ms两档的曝光时间,每个时间档至少测3次,取平均值。曝光时间的设置应重点检测临床常用时间档。 状态检测: ①管电压指示的偏离 测量大焦点下80kV和临床其他管电压档,每档曝光测量至少三次,并根据偏差公式计算。 计算公式: ②有用线束半值层 选择80kV或最接近档位,临床常用管电流时间积,曝光至少三次直接读取半值层测量值,以三次测量值做平均值,记录平均值为最终的半值层。 2.输出量重复性(验收/状态) 将数字X射线摄影(DR)设备球管与探测板垂直,调节高度,使球管中心与诊断床的距离为1m,即SID为1m。探头下方放一块铅板,设置光野10cm×10cm,中心线束与台面垂直。打开Ray Safe X2主机,连接R/F探头,并置于光野焦点中心。 式中: CV:变异系数;% Ki:每次空气比释动能读数,mGy; : n次空气比释动能测量值的平均值,mGy; n:空气比释动能的测量值总次数。 3.输出量线性(验收) 将数字X射线摄影(DR)设备球管与探测板垂直,调节高度,使球管中心与诊断床的距离为1m,即SID为1m。探头下方放一块铅板,设置光野10cm×10cm,中心线束与台面垂直。打开Ray Safe X2主机,连接R/F探头,并置于光野焦点中心。 选择80kV、常用管电流时间积档,进行曝光并记录空气比释动能。 改变管电流和时间,并要使得改变后的管电流和时间积与改变前的管电流时间积相同或近似。 4.几何特性(验收/状态) 本次检测采用准制度检测板和线束垂直测试筒(检测筒)进行检测。 将检测板(厚1mm,规格18cm×24cm)放在影像接收器上,然后将检测筒放在检测板上检测筒的圆心与检测板的中心对准,调节胶片距为100cm(或常用胶片距),即SID为1m,用手动方式将光野中心与检测板上的中心对。 (1)光野与照射野四边的偏离 将光野边界与检测板上18cm×24cm的长方框线重合,选择适当档50kV,管电流时间积10mAs左右曝光,获取影像,调整窗宽窗位使影像分辨力最优化,并将影像放大到适当倍数,测量横轴上的偏离a1、a2(规定长轴为a、短轴为b),纵轴上的偏离b1、b2。(光密度较大的区域为照射野,线条方框中为光野) 如重合不了,则记录下光野与检测板刻线的距离。光野大于照射野的部分为正值,照射野大于光野的部分为负值。 (2)有用线束垂直度偏离 可查看(1)曝光的后的影像,调整窗宽窗位使影像分辨力最优化,并将影像放大到适当倍数,观察检测筒上下两钢珠影像间的位置。检测筒上表面中心钢珠的影像落在小圆影像内时,垂直度偏差小于3°,落在大圆影像内时,垂直度偏差小于6°。 5.AEC重复性、AEC相应、AEC电离室之间一致(验收/状态) (1)AEC灵敏度 将一块厚20mm铝板放在照射野中并覆盖设备的AEC电离室灵敏区域,调节照射野小于铝板的尺寸。选择全部电离室,在自动曝光条件下进行曝光(若无全自动曝光条件,则固定管电压为80kV,mAs自动)。 (2) AEC响应 将一块厚20mm铝板放在照射野中并覆盖设备的AEC电离室灵敏区域,调节照射野小于铝板的尺寸。选择全部电离室,在自动曝光条件下进行曝光(若无全自动曝光条件,则固定管电压为80kV,mAs自动)。 将1.5mm厚度的铜板置于前一块铝板上,保证测量几何条件和探头位置不变。 比较两次测量结果与平均值的相对偏差。 (3) AEC电离室之间一致 设置电压为70kV,关闭其他电离室,选择一个电离室,在AEC下曝光,记录机器显示mAs(按

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