SZT-D型半导体粉末电阻率测试台操作说明书.docVIP

PAGE PAGE 2 注意：敬请用户在操作使用SZT-D型半导体粉末电阻率测试台之前，必须详细阅读技术使用说明书！并妥善保存。 苏 图2-1 测试台结构部件名称 SZT-D型半导体粉末电阻率测试台操作说明书 一、概述 本测试台参照有关国际标准进行设计，可以对半导体粉末、高分子纳米粉末和固态金属粉末进行电阻、电阻率多用途的测量。 组成及特点：测试台为探头、加压机构、粉末标准容器、压力检测、厚度检测等单元组成。压力机构采用手动操作，压力平稳可调，电子数码显示压力值。本仪器可一边加压同步测试，可方便测试不同压力下粉末的导电性能曲线，也可以单独作为粉末压制成片的工具使用，成片后可脱模取出，用普通四探针法测试相关参数！本仪器具有测量精度高，操作简便、稳定性好，重复性好，一机多用使用方便等特点。 本仪器采用国际通用的电流、电压四端子测量法（两个电流和电压电极同时和样品接触），可以消除电极与导线导通电阻产生的误差，克服了传统的二端测量粉末电阻率仪器的弊病，可以真实地、准确地测量出粉末样品的电阻率，因此重复性好。测试参数时同步检测压力和高度，也是区别于以往旧款同类测试台新特点！便于研究材料的特性曲线！ 本仪器适用于碳素厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等院校、科研部门、是检验和分析固态和粉态样品质量的一种重要优良工具。二、主