基于mcu的锁相环锁定时间测量系统设计.pdfVIP

摘要： 为测量锁相环锁定时间， 通过比较各锁相环芯片的接口特点， 设计通用的测量系 统。该系统包括上位机、下位机软件以及基于 at89c51 的控制电路，上位机和下位机使用 串口通信。 通用性和实时性是系统最大特点， 在软件和硬件的设计上保证系统能兼容大多 数常用锁相环芯片； 并能根据用户输入的控制参数实时控制锁相环且测量其锁定时间。 通 过实际应用证明， 该系统能准确测量锁定时间， 有效减少锁相环设计与调试过程中的工作 量与复杂度。 关键词： at89c51； 锁相环； 锁定时间； 串口 锁相环技术是一种频率合成技术， 在各类通信和控制系统有着重要应用。 其中锁定时 间是环路的重要参数。商业的锁相环设计软件仅能在仿真层面上计算出锁定时间的理论 值，而本文所设计的锁定时间测量系统包括软件和硬件， 可动态控制锁相环并实时测量其 锁定时间。 典型的锁相环系统包括分频器、鉴相器、滤波器、压控振荡器。其中鉴相器 和分频器往往都集成在一个锁相环芯片中， 可使用单片机对其进行编程控制。 锁相环芯片 控制数据的传输大都采用串行方式， 仅在一些细节上有所不同， 这给设计通用的锁相环锁 定时间测量系统带来可能。 1 系统原理 测量系统结构如图 1 所示。 上位机通过串口和单片机通信。 上位机负责读取用户输入的 控制参数并传递给单片机， 单片机负责将控制参数写入锁相环并测量锁定时间， 之后交由 上位机显示。 通常锁相环芯片与单片机的编程接口电路如图 2(a)所示， clock 为芯片和单片机提供同 步时钟； data 是芯片控制数据的串行输入引脚； le 是芯片数据寄存器控制引脚，可通过 le 的上升沿触发将存储在芯片移位寄存器中的 data 串行数据送入芯片内各部件； ce 为使能 引脚。 以上几个控制信号的时序如图 2(b) 所示，将以上几个引脚分别接入单片机的 i/o 口， 并按照控制信号的时序向锁相环芯片写控制数据，便可控制锁相环芯片。 图 1 系统结构 muxout 是芯片的复用引脚，可配置成锁定检测输出，即当环路锁定时该 引脚便输出高电平或低电平。所以环路锁定时间测量原理为：将 muxout 引脚连接到单片 机的外部中断引脚，当单片机发送完数据后打开其内部定时器，环路锁定后 muxout 引脚 便会触发单片机的外部中断， 在单片机的中断程序中记录下定时器的值便可准确测量到环 路的锁定时间。 图 2 锁相环芯片编程接口与时序通过比较发现， 各类型锁相环芯片的编程接口除了上述 共同点以外还存在如下几点差异：输入接口所要求的电平不同； muxout 的锁定指示输出 不同， 即不同芯片的 muxout 有可能输出高电平表示锁定， 也有可能输出低电平表示锁定； data 输入的顺序不同，例如当控制数据为 1011 时，某些芯片要求数据逆序输入，即输入 顺序为 1101；data 位数不同，不同芯片的控制数据不尽一致，因此数据位数也不一致。 本文中前 2 点差异通过硬件电路解决，后 2 点通过上位机和下位机软件解决。 2 硬件设计 本系统中的单片机选择 at89c51 ，主要基于 2 点考虑： at89c51 内置 rs 232 串口控制器， 系统仅需外接串口驱动器即可