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X射线荧光光谱仪 ;主要配置： LiF、Ge、PET、TAP、SX-52及SX-98N 6块分光晶体；FPC、SC检测器；液体样品盒；微区刻度尺 主要性能指标： 1、检测元素范围：4Be-92U 2、元素含量范围：0.0001%-100% 3、最大扫描速度：300°/min;主要用途： 1、测量块状、粉末、薄膜和液态材料的元素种类及含量，并建立工作曲线。 2、对矿石样品进行局部分析。 3、通过元素含量分析涂层、薄膜厚度。 主要优点： 分析迅速、样品前处理简单、可分析元素范围广、谱线简单，光谱干扰少 ; 基础知识简介;什么是仪器分析？;抗舰抓购曾坑叭妇五揍镍孵勇陕膀坤众叔咐踩钦夹务砚峭助末潘踩弟馏亥XRF仪器分析培训XRF仪器分析培训;仪器分析方法的分类;什么是光谱：光谱是一系列有规律排布的光。如雨后的彩虹。;户广垮公币廷萌荫谓杉孝干掺烯缓晴鹤历姨啡房念办宾掠铁坏购异市寨殃XRF仪器分析培训XRF仪器分析培训;;光分析法：光学分析法是根据物质吸收、发射、散射电磁波或电磁波与物质作用而建立起来的一类分析方法。光学分析法可归纳为以下两大类：;光分析法;什么是光谱分析？;X射线荧光分析; X射线荧光光谱仪的分类 ??? 1. 根据分光方式的不同，X射线荧光分析可分为能量色散和波长色散两类， 缩写为EDXRF和WDXRF。 ??? ??? 2. 根据激发方式的不同，X射线荧光分析仪可