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式中： n1p1；nkpk 分别为每个子组内的不合格的数目 n1；nk为每个子组的检验总数 计算上下控制限（UCL；LCL） UCLp = P + 3 P ( 1– P ) / n LCLp = P – 3 P ( 1– P ) / n P 为平均不良率；n 为样本容量 注： 1、从上述公式看出，凡是各组容量不一样，控制限随之 变化。