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缺陷分析 缺陷分析分为两种，一种是通过缺陷趋势对产品质量进行评估，一种是通过分析缺陷类别和产生根源来促进测试和开发工作的改进。 通过对测试过程发现的缺陷趋势的分析，可以对遗留问题进行预测，对产品质量进行评估，并确定测试是否可以关闭。 根据缺陷的属性，比如缺陷属于哪个模块，是否测试设计或测试执行漏测，缺陷产生根源等，测试部门可用改进测试设计，测试执行过程，开发部门可以改进开发设计过程。 测试关闭 测试关闭分两种： 整个产品生命周期中，某个轮次测试的结束。每个轮次的测试活动都会有一个具体的测试执行计划，覆盖哪些模块哪些功能。完成该测试计划，则该轮测试活动可以关闭。 整个产品测试生命周期到头。产品测试生命周期是否可以结束，需要确认软硬件测试是否达到了预定的目标。对于软件测试来说，需要确认测试发现问题趋势是否收敛到某个标准。 测试基础理论 测试活动定义 测试活动分类 测试过程组织 补充介绍 对于测试活动，应该额外了解的一些事实 问题越早发现，越早解决，代价越小。测试和评审活动在产品开发的各个阶段都是必须的，而且测试介入开发阶段越早越好。 对于测试活动，应该额外了解的一些事实 测试活动，是一种代价昂贵，又不得不开展的消耗活动。测试投入会得到回报，但测试投入应该有一定限制。 代价：人力、设备、仪器的投入；发布时间因为测试发现问题，解决问题而推迟。回报：更高质量的产品、客户美誉度、更少的维护成本。 测试并不是开展得越充分越好，测试作为企业商业行为的一部分，投入和回报始终是放在第一位考虑的因素。 产品质量在可控范围内即可，对质量的过度追求没有必要，也得不偿失。 Content 测试基础理论 H3C测试实践 同一套理论，实践的道路各不相同。 H3C测试实践 H3C测试流程总览 测试计划和需求 测试设计 测试执行 测试评估与关闭 H3C测试流程 H3C继承了华为公司的产品开发模式，采用集成产品开发（IPD）流程指导产品开发生命周期各阶段活动。 与IPD流程相适应，华为/H3C公司定义了IPD-PTM产品测试管理流程来指导全流程测试工作，支撑产品开发。目前是IPD-PTM V2.2。 IPD流程中的产品开发生命周期 Charter－任务书 TR－Technical Review（技术评审） DCP－Decision CheckPoint（决策评审点） CDCP－Concept DCP（概念决策评审点） PDCP－Plan DCP（计划决策评审点） PCR－Project Change Request（项目变更请求） EDCP－Early Sales Support DCP（早期销售支持决策评审点） ADCP－Availability DCP（可获得性决策评审点） GA－General Availability（大规模可获得） EOP DCP－End Of Production DCP（终止生产） EOM DCP－End Of Marketing DCP（终止销售） EOS DCP－End Of Service and Support DCP（终止服务和支持） GA 概念阶段 计划阶段 开发阶段 验证阶段 发布阶段 生命周期管理 EDCP EOP/EOM/EOS DCP Charter CDCP PDCP ADCP PCR TR1 TR2 TR3 TR4 TR4A TR5 TR6 测试生命周期－－PTM和IPD各阶段对应 GA 概念阶段 计划阶段 开发阶段 验证阶段 发布阶段 生命周期管理 BETA EDCP EOP/EOM/EOS TR1 TR2 TR3 TR4 TR4A TR5 TR6 Charter CDCP PDCP ADCP 测试需求分析与计划 测试方案设计 测试用例设计 SDV SIT SVTBeta 产品测试关闭 IPD－PTM流程结构 制定产品总 体测试策略 产品测试 需求分析 产品包需求 设计需求 设计规格 Build计划 特性A测 试方案 特性B 测试方案 特性C 测试方案 特性D 测试方案 制定SDV测试策略 制定SIT测试策略 制定SVT测试策略 特性A 用例 特性B 用例 特性C 用例 特性D 用例 用例设计 测试方案设计 测试需求分析 SDV/SIT/SVT测试执行 测试规范 与理论 测试执行 IPD-PTM流程目标 IPD-PTM流程是一套以项目管理体系为基础、服务于IPD产品级测试的E2E流程与工作平台。 通过覆盖整个测试生命周期的统一业务流程，使产品测试活动有序化、规范化、可视化，并强化各项测试活动的可继承性和可重用性，促成研发成本的降低。 通过IPD-PTM流程定义的各类质量度量和质量控制手段，能更有效对产品的开发测试过程的质量进行监控，对产品质量的评价更全面、更充分，可以有效促