谐振式MEMS压力传感器的制作及圆片级真空封装 陈德勇.docxVIP

谐振式MEMS压力传感器的制作及圆片级真空封装 陈德勇.docx

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谐振式MEMS压力传感器的制作及圆片级真空封装 陈德勇 谐振式MEMS压力传感器的制作及圆片级真空封装lowbar;陈德勇 Ot   csandPrecisionEnineerin   pigg2014年5月 第22卷 第5期 光学精密工程 Vol.22 No.5a.2014 My )文章编号 1004924X(201405123508--- 谐振式MEMS压力传感器的制作及圆片级 陈德勇*,曹明威,王军波,焦海龙,张 健 (中国科学院电子学研究所传感技术国家重点实验室北京100190) )摘要:为了提高传感器的品质因数,有效保护谐振器,提出了一种基于绝缘体上硅(SOI-玻璃阳极键合工艺的谐振式微),电子机械系统(压力传感器的制作及真空封装方法。该方法采用反应离子深刻蚀技术(分别在SMEMSDRIE)OI晶圆然后,通过氢氟酸缓冲液腐蚀S的低电阻率器件层和基底层上制作H型谐振梁与压力敏感膜;OI晶圆的二氧化硅层释 放可动结构。最后,利用精密机械加工技术在P通过硅-玻璃阳极键合实现谐rex玻璃圆片上制作空腔和电连接通孔,y成功地将谐振器封装在真空参考腔中。对传感器的性能测试表明:该真空封装方案简振梁的圆片级真空封装和电连接, /,单有效,封装气密性良好;传感器在1线性相关系数为00kPa~110kPa的差分检测灵敏度约为10.66HzhPa.99 542。999 );关 键 词:微电子机械系统;谐振式压力传感器;绝缘体上硅(阳极键合;真空封装SOI:/中图分类号:TP212.1  文献标识码:A  doi10.3788OPE1235 FabricationandwaferlevelvacuumackainofMEMS  -   pgg ressureresonantsensor  p ,,WANG,,onCHENDeCAO MineiJunboJIAO HailonZHANGJian -y-w -- ggg (State KeLaboratoroTransducerTechnoloInstituteoElectronics,  y yf gy,f  ChineseAcademoSciences,Beiin00190,China) yf jg1 orresondinauthor,E-mail:dchenail.ie.ac.cn*C@mpgy :,ualitrotectAbstractToimrovethefactorofsensorsandtoresonatorsthefabricationandwafer            -qypp )level vacuum ackainmethods for a Micro-electro-mechanic Sstem(MEMSresonant ressure sen-pgg yp)sor was roosed based on Silicon On Insulator(SOI-glass anodic bondintechnolo.Throuhppg gyg ,H-DeeReactive Ion EtchinDRIE)rocess and buffered oxide etched releasinrocesste reso-p g(pg pypnant beams and ressure diahram of the sensor were fabricated on the low resistivitdevice laerppgy y ,, the substrate laer of SOI waferresectiveland a moveable mechanism was release ba SiOand2ypyy ,laer of the SOI wafer corroded bhdrofluoric acid flow.Finallelectrical connection and a cavityyyyy for the vibration of beams was imlemented on the Prex lass iece bfine mechanical machininandpygpy g the wafer-level vacuum and electric connection of the resonators were achieved with SOI-ackainpgg lass anodic bondin.Exerimental results d

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