AECQ100G中文版的翻译.pdf

基于集成电路应力测试认 证的失效机理 内容列表 AEC-Q100基于集成电路应力测试认证的失效机理 附录 1：认证家族的定义 附录 2：Q100设计、架构及认证的证明 附录 3：邦线测试的塑封开启 附录 4：认证计划和结果的最低要求 附录 5：决定电磁兼容测试的零件设计标准 附录 6：决定软误差测试的零件设计标准 附件 AEC-Q100-001邦线切应力测试 AEC-Q100-002人体模式静电放电测试 AEC-Q100-003机械模式静电放电测试 AEC-Q100-004集成电路闩锁效应测试 AEC-Q100-005可写可擦除的永久性记忆的耐久性、数据保持及工作寿命的测试 AEC-Q100-006热电效应引起的寄生闸极漏电流测试 AEC-Q100-007故障仿真和测试等级 AEC-Q100-008早期寿命失效率（ELFR） AEC-Q100-009电分配的评估 AEC-Q100-010锡球剪切测试 AEC-Q100-011带电器件模式的静电放电测试 AEC-Q100-012 12V系统灵敏功率设备的短路可靠性描述 227 感谢 任何涉及到复杂技术的文件都来自于各个方面的经验和技能， 为此汽车电子 委员会由衷承认并感谢以下对该版文件有重要贡献的人： 固定会员： 准会员： 327 特邀会员： 其他支持者： 427 注意事项 AEC文件中的材料都是经过了 AEC技术委员会所准备、评估和批准的。 AEC文件是为了服务于汽车电子工业，无论其标准是用在国内还是国际上， 都可排除器件制造商和采购商之间各方面的不一致性， 推动产品的提高和可交换 性，还能帮助采购商在最小的时间耽搁内选择和获得来自那些非 AEC成员的合适 的产品。 AEC 文件并不关注其采纳的内容是否涉及到专利、文章、材料或工艺。 AEC 没有认为对专利拥有者承担责任，也没有认为要对任何采用 AEC 文件者承担义 务。汽车电子系统制造商的观点主要是 AEC文件里的信息能为产品的说明和应用 提供一种很完美的方法。 如果没有在本文件见到所陈述的要求， 就不能声称与本 文件具有一致性。 与 AEC文件相关内容的疑问、评论和建议请登陆链接 AEC技术委员会网站： 本文件由汽车电子委员会出版。 尽管 AEC拥有版权， 但本文件可以免费下载。由于该下载方式，个人须同意 不会对该文件索价和转售。 享有著作权。本文件可以根 据著作权注意事项进行再次出版印刷。 不经过 AEC元器件技术委员会批准， 本文 件禁止任何更改。 527 基于封装集成电路应力测试认证的失效机理 下列下划线部分标示了与上版文件的增加内容和区别， 几个图表也作了相应 修正，但这几处的更改并没有加下划线强调。 1. 范围 本文件包括了一系列应力测试失效机理、 最低应力测试认证要求的 定义及集成电路认证的参考测试条件。 这些测试能够模拟跌落半导体器 件和封装失效， 目的是能够相对于一般条件加速跌落失效。 这组测试应 该是有区别的使用，每个认证方案应检查以下： a、任何潜在新的和独特的失效机理