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实验名称：霍尔组件基本参数测量
仪器与用具：TH-H 霍尔效应实验组合仪
实验目的：1、了解霍尔效应实验原理 2 、学习“对称法”消除副效应影响的方法 3、测量霍尔
系数、确定样品导电类型、计算霍尔组件灵敏度等
实验报告内容（原理预习、操作步骤、数据处理、误差分析、思考题解答）
【实验原理】：
通有电流IS 的半导体薄片置于与它垂直的磁场B 中，在薄片的两测就会产生电势差UH—霍尔电
势差，这种现象叫霍尔效应。
霍尔效应产生的原因，是因为形成电流的载流子在磁场中运动时，受到洛沦兹力F=qv ×B 的作
用,正、负电荷在样品两测边界聚集，形
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