纳米材料的表征方法.pdf

纳米材料的表征及其催化效果评价方式 纳米材料的表征主要目的是确定纳米材料的一些物理化学特性 如形貌、尺寸、粒径、等电点、化学组成、晶型结构、禁带宽度和吸 光特性等。 纳米材料催化效果评价方式主要是在光照（紫外、可见光、红外 光或者太）条件下纳米材料对一些污染物质（甲基橙、罗丹明 B、亚 甲基蓝和 Cr6+等）的降解或者对一些物质的转化 （用于选择性的合成 过程）。评价指标为污染物质的去除效率、物质的转化效率以及反应 的一级动力学常数 k 的大小。 1 、结构表征 XRD ，ED，FT-IR, Raman，DLS 2 、成份分析 AAS ， ICP-AES，XPS ，EDS 3 、形貌表征 TEM ，SEM ，AFM 4 、性质表征 -光、电、磁、热、力等 UV-Vis ，PL，Photocurrent 1. TEM TEM 为透射电子显微镜，分辨率为 0.1～0.2nm，放大倍数为几 万～百万倍，用于观察超微结构，即小于 0.2 微米、光学显微镜下无 法看清的结构。 TEM 是一种对纳米材料形貌、粒径和尺寸进行表征 的常规仪器，一般纳米材料的文献中都会用到。 The morphologies of the samples were studied by a Shimadzu SSX-550 field-emission scanning electron microscopy (SEM) system, and a JEOL JEM-2010 transmission electron microscopy (TEM )[1] . 一般情况下， TEM 还会装配 High-Resolution TEM （高分辨率透 射电子显微镜）、EDX （能量弥散X 射线谱）和 SAED （选区电子衍 射）。High-Resolution TEM 用于观察纳米材料的晶面参数，推断出纳 米材料的晶型； EDX 一般用于分析样品里面含有的元素，以及元素 所占的比率； SAED 用于实现晶体样品的形貌特征与晶体学性质的原 位分析。 2. SEM SEM 表示扫描电子显微镜， 可以获取被测样品本身的各种物理、 化学性质的信息，如形貌、组成、晶体结构和电子结构等等。 SEM 也是一种对纳米材料形貌、 粒径和尺寸进行表征的常规仪器， 一般纳 米材料的文献中都会用到。 The morphologies of the samples were studied by a Shimadzu SSX-550 field-emission scanning electron microscopy (SEM ) system, and a JEOL JEM-2010 transmission electron microscopy (TEM )[1] . (a) SEM image of TiO2 nanofibers SEM 一般会装配 EDX ，用于分析材料的元素成分及所占比率。 3. AFM AFM 是指原子力显微镜， 原子力显微镜的优点是在大气条件下， 以高倍率观察样品表面， 可用于几乎所有样品 （对表面光洁度有一定 要求），而不需要进行其他制样处理，就可以得到样品表面的三维形 貌图象。 The an