test2-汉语-答案(测量值过滤器-轮廓进行测量).pptVIP

　 Copyright (c) 2009 KEYENCE CORPORATION. All rights reserved. Copyright (c) 2009 KEYENCE CORPORATION. All rights reserved. 问题１ 系统初始化最快采样周期1Kz，如果想使用更快的采样周期，可以改变哪些设定来达到目的？ 在下图中圈出（○）相应的设定。（10分） 问题２ 对下图所示的轮廓进行测量时，使用位置补正（X补正）功能后，测量值不稳定。 １．请回答可能的原因。 ２．进行怎样的位置补正能够提高测量值的稳定性？请在右图中画出。 X补正 回答栏 边缘部分的激光反射状态不稳定。因此导致轮廓会左右跳动。 使用X→Z补正 X补正 Z补正 问题３ 对下面的被测物进行测量时，未能得到理想的轮廓。 　１．若想得到正确的波形，需要改变哪个设定？只回答一个。 将“选择峰值”改为“NEAR” 　２．如果使用屏蔽功能可以得到正确的轮廓。请问屏蔽区域应加在哪里？请在下图中画出。 　３．请回答使用屏蔽时的注意点。 若工件发生位置偏移，有可能需要进行测量的部分也进入屏蔽区域内。 屏蔽区域 问题４ 波形比较平坦 测量点 下图中的被测物在设定为“高动态范围1”进行测量时，无法得到想要的波形。但将设定改为“高动态范围3”后，轮廓得到了显著改善。请回答原因。 高动态范围3 高动态范围1 被测物是比较光泽的，顶点部分的光量返回得较多，而侧面的光量返回得较少。因为此工件不同的测量区域光量返回差比较大，因此选用“高动态范围3”更有效果。 在测量下图的物体时，“峰值宽度过滤器”设为ON时，有一部分轮廓变为报警状态。 　１．请回答出现此结果的原因是什么？ 如下图所示，纵向的波形过于粗大，因此被忽略。 　２．这个功能在什么时候是有效果的？ 在测量具有多重反射的工件时比较有效。 问题５ 测量点 纵向的波形较粗 问题６ 在初始设定（采样周期1KHz）测量标准棒时，无法得到正确的轮廓。曝光时间从960ms→1920ms后，依然没有任何改善。请回答原因。 曝光时间表示一个采用周期内的发射激光的曝光时间。当采样周期为1kHz时，一次采样所需的时间为1000μs。 虽然可以设定为1920μs，但因为这个值大于1000μs，所以没有效果。 实际的曝光时间请通过左图所示的隐藏模式进行确认。 [Scroll Lock]+[ Num Lock] 按住的状态 再按[Ctrl] + [Shift] 点击[提示] 问题７ 下图表示拍摄设定的功能。请说明①与②原理。 ①多重发光（合成） 　　　　　　　 ②多重发光（光量最佳化）　　　　　　　 合成：改变发光功率与灵敏度进行设定次数的采样，最后将数次采样中稳定显示的部分轮廓进行合成。 最佳化：进行光量反馈控制的情况下进行指定次数的采样，最后一次采样所得的轮廓作为测量轮廓。 问题８ １．通过LJ-V测量得到的轮廓有多少个点构成？ 800点 ２．这些点之间的间隔是多少？按照型号进行回答。 间隔 间隔 LJ-V7020（K) 　　　10　　um LJ-V7060 　　　20　 um LJ-V7080 　　　50　　um LJ-V7200 　　　100　um LJ-V7300 　　　300　um 问题９ 本来想得到如图①所示的轮廓，但实际测量轮廓为②。 更改哪个设定可以改变此状态？ 平滑数 ② 测量点 ① 问题10 图①所示的死角处理设定变更后，一般情况下不会显示的死角数据会变得能够显示。这个设定与图②的死角处理设定的不同点是什么？ ② ① 死角显示设定：LJ-Navigator2的显示设定。只是将实际上无法测量的部分变得能够显示。但无法用于测量以及位置补正。 死角处理：若此设定改为“无效”，死角部分进行线性插值补正。能够用于测量以及位置补正。 问题11 平滑数设为“4”，中位数处理设为“5”，请说明这两个设定对轮廓进行了怎样的处理？ 问题12 电脑与LJ-V控制器通过RS-232C进行通信。 ①从电脑向LJ-V控制器发送命令后，得到“错误”（ER）的返回命令，此时应该如何应对？ 确认错误编号后，找出对应的问题即可进行相应处理。 ②从电脑向LJ-V控制器发送命令没有得到任何回应。导致此问题的原因可能有哪些？并且回答必须确认的项目有哪些。 检查电脑与LJ-V控制器的波特率与奇偶性是否一致。 使用超级终端进行通信确认。 换一台控制器进行确认。 因为出问题的地方比较多，因此需要对每种可能性进行单独确认。 　 Copyright (c) 2009 KEYENCE CORPORATION. All rights reserved. Copyright (c) 2009 KEYENCE CORPORATION. All rights