《传感器与检测技术》高教(4版） 第八章.pptVIP

第8章 无损检测 8.1 超声波探伤 8.2 γ射线探伤 8.3 电涡流探伤 8.4 工业CT 8.5 微波探伤 无损检测是在不损伤被测材料的情况下，检查材料的内在或表面缺陷，或测定材料的某些物理量、性能、组织状态等的检测技术。广泛用于金属材料、非金属材料、复合材料及其制品以及一些电子元器件的检测。常用的无损检测技术有超声检测、射线探伤、声发射检测、渗透探伤、磁粉探伤等。此外，中子射线照相法、激光全息照相法、超声全息照相法、红外检测、微波检测等无损检测新技术也得到了发展和应用。 本章主要讲述超声波探伤、γ射线探伤、电涡流探伤、工业CT及微波探伤等工作原理及主要应用。 8.1 超声波探伤 超声波探伤是目前应用最广泛的无损探伤方法之一。利用物体自身或缺陷的声学特性对超声波传播的影响，来检测物体的缺陷或某些物理特性。在超声检测中常用的超声频率为～10MHz。 8.1.1 超声波探伤仪 超声波探伤仪、探头和试块是超声波探伤的重要设备，了解这些设备的原理、构造和作用及其主要性能的测试方法是正确选用探伤设备进行有效探伤的保证。超声波的发射和接收是通过探头来实现的。 1 超声波探伤仪 超声波探伤仪的作用是产生电振荡并加于换能器（探头）上，激励探头发射超声波，同时将探头送回的电信号进行放大，通过一定方式显示出来，从而得到被探工件内部有无缺陷及缺陷位置和大小等信息。图 为欧能达5100数字式超声波探伤仪。按缺陷显示方式分类，超声波探伤仪分为三种，下面重点介绍前两种。 （1） A型显示仪 A型显示脉冲反射式超声波检测仪的基本电路如图所示。同步电路以给定的频率产生周期性的同步脉冲信号，该信号一方面触发发射电路产生激励电脉冲加到探头上产生脉冲超声波，另一方面控制时基电路产生锯齿波加到示波器的X轴偏转板上使光点从左到右随时间移动。超声波通过耦合剂射入工件，遇到界面产生反射，回波由已停止激振的原探头（单探头工作方式）或者是由另一探头（双探头工作方式）进行接收并转换成相应的电脉冲，然后经放大电路放大加到示波管的Y轴偏转板上，此时，光点不仅在X轴上按时间作线性移动，而且受Y轴偏转电压的影响作垂直运动，从而在时间基线上出现波形。根据反射波在时间基线上的位置可确定反射面与超声入射面的距离，根据回波幅度可确定回波声压的大小。 图8.1.1 欧能达5100数字式超声波探伤仪 图为欧能达5100数字式超声波探伤仪。按缺陷显示方式分类，超声波探伤仪分为三种，下面重点介绍前两种。 图8.1.2 A型显示超声波检测仪的基本电路框图 1- 同步电路 2- 发射电路 3- 探头 4- 工件 5- 缺陷 6- 荧光屏显示 7- 示波器 8- 时基电路 9- 接收放大电路 图8.1.3 B型显示系统框图 1- Y轴扫描电路 2- 同步电路 3- 发射电路 4- 放大电路 5-电子束强度调制 6-机械连接 7-探头 8-工件 9-缺陷 10-X轴位置 （2）B型显示仪 图为B型显示脉冲反射式超声波检测仪系统的示意图。同步信号触发发射电路使探头发射超声波，同时也触发Y轴扫描电路，将锯齿波电压加到示波管的Y轴偏转板上。随探头位置变化而变化的直流电则加到X轴偏转板上。探头接收回波信号，再经放大电路放大加到示波管的栅极进行扫描亮度调制。当探头在试件上沿直线移动时，在屏上可显示出沿探头扫查线所取得截面上的前表面，后表面及内部反射界面的位置、取向和深度。 （3）C型显示仪 C型显示也是一种图象显示，屏幕的横坐标和纵坐标都代表探头在工件表面的位置，探头接收信号幅度以光点辉度表示，因而当探头在工件表面移动时，屏上显示出被探工件内部缺陷的平面图象，但不能显示缺陷的深度。 2. 试块 按一定用途设计制作的具有简单几何形状人工反射体的试样，通常称为试块。试块和仪器、探头一样，是超声波探伤中的重要工具。其主要作用为 （1）确定探伤灵敏度 超声波探伤灵敏度太高或太低都不好，太高杂波多，判伤困难，太低会引起漏检。因此在超声波探伤前，常用试块上某一特定的人工反射体来调整探伤灵敏度。 （2）测试探头的性能 超声波探伤仪和探头的一些重要性能，如放大线性、水平线性、动态范围、灵敏度余量、分辨力、盲区、探头的入射点、K值等都是利用试块来测试的。 （3）调整扫描速度 利用试块可以调整仪器屏幕上水平刻度值与实际声程之间的比例关系，即扫描速度，以便对缺陷进行定位。 1. 按原理分类 可分为脉冲反射法、穿透法和共振法。