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1;;;;;如果样品上有明显过高的非基底特征，如下图中亮点，需要使用遮蔽框将这些位置遮蔽后（点右键画框），再execute，或将flatten Z thresholding direction设置为Z》=或Z《，将Mark excluded data设置为Yes，设定Flatten Z threshold %值，使非基底部分被遮蔽后，再execute，之后将Mark excluded data设置为No，即可完成操作。;执行后，图片变成这样。;;有色系和颜色区间等选项可选;;更改高度条起始点：
将高度条起始点从负值改为零。
Commens—adjust image color—modify data scale--;;;用鼠标左键在样品图像区域拖一条线，右侧坐标图???就会出现这条线上相应位置高度的折线图，左键拖动折线图中两条
竖直虚线的位置，就可以改变图像区域与虚线颜色相同的相应十字叉的位置。将十字叉定位准确后，在图像下方的三色条框中
读出相应颜色十字叉定位的数值。例如，下图中蓝色十字叉标记的线上读出被测试样品的高度为4.816 nm（vertical distance栏）；
红色十字叉标记的线上，可读出目标颗粒的宽度为30.503nm （horizontal distance栏）；;;点击右侧browse files,选定目标文件，
在未进行平滑的原始文件上
点击右键，出现如下对话框，
选择export ASCII，可以输出图像上
每个数据点的高度值（进针位置的高度
被默认为0）。该组数据可根据测试者需要，
采用特定的统计方法得出所需的粗糙度等值。
如需输出矩阵形式将输出数据的列数设置为扫描线
条数。; 打开软件后按F1键，可弹出介绍软件详细功能的网页，未在本PPT中介绍到的内容，请详细阅读网页内容。;;
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