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会计学;目 录;前言;FEI F30电镜用户资格要求、培训和使用问题解答联系人;FEI F30电镜外观结构示意图;;电镜危机处理步骤！！！;;实验开始预准备;实验开始预准备;样品装载到电镜样品腔;TEM（明场模式）工作模式电镜工作状态校准;RH;;;5：调节放大倍数M=220kx。并用旋钮Focus将电子束斑聚成小点。
6：将电子束斑移至磷光屏中心，然后调节pp X,pp Y,Beam Shift，此过程与明场下调节光路过程类似。
7：压按RH控制板上的Diffraction，以进入衍射模式。
8：点击HAADF(黄色)，以暂时退出高角环形暗场探测器。
9：放下???屏幕，在小屏幕中观察电子束斑。
10：旋转Focus(期间适当调节步长)，找到朗奇图(Ronchigram)， 如图A。
11：点击Tune→Condenser，用旋钮multifunction X and Y调节朗奇图至B状态(最中心有亮斑，整体呈翻滚状态)
12：放入镜筒右侧的Beam Block，要放精准，确定朗奇图中心在Beam Block上的位置(即记住朗奇图中心相对于Beam Block的位置)
13：调CA2=1，小屏幕上出现小亮点，调节CA2的X和Y，使小亮点移至上一步记住的位置
14：退出Beam Block
15：点击HAADF，以使高角环形暗场探测器进入
;16：点击Search，观察样品。
17：移动样品，改变放大倍数，用旋钮Focus调节聚焦。
18：期间可点击Auto C/B以自动调节图像。
19：退出STEM模式：依次点击HAADF和STEM，并调节CA2=4。;SAED(选区电子衍射)工作模式;荧光屏;EDX(X射线能谱） ;EDX line scan(X射线能谱线扫描）;EDX mapping(X射线能谱元素图像） ;FEI F30电镜用户资格要求、培训和使用问题解答联系人;样品装载到电镜样品腔;TEM（明场模式）工作模式电镜工作状态校准;;5：调节放大倍数M=220kx。并用旋钮Focus将电子束斑聚成小点。
6：将电子束斑移至磷光屏中心，然后调节pp X,pp Y,Beam Shift，此过程与明场下调节光路过程类似。
7：压按RH控制板上的Diffraction，以进入衍射模式。
8：点击HAADF(黄色)，以暂时退出高角环形暗场探测器。
9：放下小屏幕，在小屏幕中观察电子束斑。
10：旋转Focus(期间适当调节步长)，找到朗奇图(Ronchigram)， 如图A。
11：点击Tune→Condenser，用旋钮multifunction X and Y调节朗奇图至B状态(最中心有亮斑，整体呈翻滚状态)
12：放入镜筒右侧的Beam Block，要放精准，确定朗奇图中心在Beam Block上的位置(即记住朗奇图中心相对于Beam Block的位置)
13：调CA2=1，小屏幕上出现小亮点，调节CA2的X和Y，使小亮点移至上一步记住的位置
14：退出Beam Block
15：点击HAADF，以使高角环形暗场探测器进入
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