数字半导体测试基础2.pdfVIP

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  • 2021-09-02 发布于河北
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精品文档 验证直流参数 (Verifying DC Parameters) 1.IDD Gross Current Test 对象 :VDD pin 目的 :粗略检测流入 VDD pin 的电源电流是否过大 .(在 wafer test 中很有用 ),判断是否有必要 继续测试 . 方法 :因为不要求精确预置 (而只是简单预置 ,为了使 DUT 在一个稳定的状态 ),所以 IDD 标准 应该放宽 ,一般是 2-3 倍 . 所有 input

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