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TWS耳机外观通用检验标准 TWS耳机外观通用检验标准 1 目的 本标准的制定是为了规范 TWS 耳机及充电盒、包装的外观检验及整机装配要求。 2 范围 本标准规定了TWS耳机及充电盒、包装的缺陷允收标准。 本标准适用于TWS耳机及充电盒、包装的外观检验，适用于研发、试制、批量生产、IQC 来料检验等各个阶段。如出现对标准理解不一致或标准中未涉及缺陷定义的情况，由研发、PQE、 MQE、PQM、CQE等商讨定义解决。 3 产品检视环境及缺陷代码表 3.1产品检视环境 温度、湿度： 温度，15℃-35℃；湿度，20%-75% 。 距离: 人眼与被测物表面的距离为 300mm-350mm。 位置: 初始时，产品与桌面成 45 度，检视角度垂直于产品检视面，随后产品上下 左右各转动 45 度 。 照明: 冷白荧光灯（光源在检测者正上方），光照度为 700-1000 Lux。 检视时间: 标准检视时间为 10±5S。允许最长检视时间 15S。在这 15S 内缺陷仍不可见， 则此检视件视为合格。建议一级面检视时间为 7s，二级面检视时间为 5s，三级 面检视时间为 3s。 检视人员要求: 检视人员视力需在 1.0 以上（含矫正视力）。 检视判定 ： 对于量化缺陷，以菲林片标准极限尺寸盖住后，正视不可见缺陷为 OK 3.2缺陷代码表 点线区分规则： A、当 L＞3W 时按线处理，否则按点处理； B、当判定为线缺陷时，出现 S 形或 C 型线时,围合量小于 3/4 圆时,按线缺陷处理 ,否则按点缺陷处理,以内切圆 模拟点大小 4 耳机、盒子外观等级面划分 4.1耳机、盒子外观等级面定义 一级面： 且在正常使用时可直接看到的主要表面，要求有最佳的外观质量，即耳机的 主体及充电盒外表面。 二级面： 且在正常使用时并不直接看到或打开时才看到的表面，要求较好的外观质量 即充电盒的上下内壳蚀纹区域 三级面： 只有拆卸时才能看到内表面即包装盒非蚀纹区内表面 图示（仅供参考）： 4.2缺陷总数要求 单一部件每个面允许有 2 个允收缺陷种类。但积漆、色差等常见缺陷不计入种 类统计。 5 终端 TWS 耳机塑胶类外观缺陷质量要求 表 1 终端 TWS 耳机塑胶类（含喷涂）外观缺陷质量要求 不良项 外观面 A 级 B 级 C 级 同色点 一级面 0.10≤D≤0.25 (0.01≤S≤0.05)，N≤2，DS≥10 0.10≤D≤0.30 (0.01≤S≤0.07)，N≤2，DS≥10 0.10≤D≤0.35 (0.01≤S≤0.10)，N≤2，DS≥10 二级面 0.10≤D≤0.30(0.01≤S≤0.07)，N≤2，DS≥10 0.10≤D≤0.35 (0.01≤S≤0.10),N≤2，DS ≥10 0.10≤D≤0.35 (0.01≤S≤0.10)，N≤2，DS≥10 三级面 不管控 备注： 1、包括杂质点、脏污点等以点形式存在的都划为点缺陷 2、同色点指的白色背景白点、黑色背景黑点、金色背景黄点、蓝色背景黑点等 异色点 一级面 0.10≤D≤0.20 (0.01≤S≤0.03)，N≤2，DS≥10 0.10≤D≤0.25 (0.01≤S≤0.05)，N≤2，DS≥10 0.10≤D≤0.30 (0.01≤S≤0.07)，N≤2，DS≥10 二级面 0.10≤D≤0.25 (0.01≤S≤0.07)，N≤2，DS≥10 0.10≤D≤0.30 (0.01≤S≤0.07),N≤2，DS ≥10 0.10≤D≤0.30 (0.01≤S≤0.10)，N≤2，DS≥10 三级面 不管控 备注： 1、包括杂质点、脏污点等以点形式存在的都划为点缺陷 2、异色点指的白色背景黑点、黑色背景白点、金色背景蓝/绿点、蓝色背景白点等 细划伤 一级面 L≤5.00，0.02≤W≤0.05，N≤2，DS ≥5 L≤5.00，0.02≤W≤0.05，N≤2， DS≥5 L≤5.00，0.02≤W≤0.05，N≤4，DS 不管控 二级面 L≤5.00，0.02≤W≤0.05，N≤3，DS 不管控 L≤5.00，0.02≤W≤0.05，N≤3， DS 不管控 L≤5.00，0.02≤W≤0.05，N≤4，DS 不管控 三级面 不管控 注： 1、区别于幻影划伤，细划伤只在正常检验角度下，多个角度都能看到的线状缺陷 2、L 长度以两端点的最长距离计算 3、当所在面的划伤宽度小