SPC统计过程控制图说明.pptx

统计过程控制(SPC)課程內容控制圖歷史說明控制圖說明控制圖原理說明控制圖種類及選擇說明正態分佈說明α,β風險說明普通原因、特殊原因說明使用控制圖注意事項X-R,X-S,X-R,X-Rm控制圖P, np, c, u控制圖Ca, Cp, Cpk, Pp, Ppk, Cmk指數說明控制圖的判讀Case study控制圖的歷史控制圖是1924年由美國品管大師W.A. Shewhart博士發明。因其用法簡簡單且效果顯著，人人能用，到處可用，遂成為實施品質管制時不可缺少的主要工具，當時稱為(Statistical Quality Control)。控制圖的發展1924年發明W.A. Shewhart1931年Shewhart發表了“Economic Control of Quality ofManufacture Product”1931發表Z1-1-1941 Guide for Quality ControlZ1-2-1941 Control Chart Method for analyzing DataZ1-3-1942 Control Chart Method for Control Quality During Production1941~1942制定成美國標準控制圖在英國及日本的歷史英國在1932年，邀請W.A. Shewhart博士到倫敦，主講統計品質管制，而提高了英國人將統計方法應用到工業方面之氣氛。就控制圖在工廠中實施來說，英國比美國為早。日本在1950年由W.E. Deming博士引到日本。同年日本規格協會成立了品質管制委員會，制定了相關的JIS標准。測量PROCESS結果原料SPCSQC針對過程的重要控制參數所做的才是SPCReal Time Response針對產品所做的仍只是在做SQC人機法測量環好測量PROCESS結果原料不好預防或容忍?不要等產品做出來後再去看它好不好而是在製造的時候就要把它製造好VOICE OF THE PROCESSSTATISTICALMETHODSTHE WAYWE WORK/BLENDING OFREWORUCESPEOPLEEQUIPMENTMATERIALMETHODSENVIRONMENTCUSTOMERPRODUCTOR SERVICEIDENTIFYINGCHANGING NEEDSAND EXPECTATIONSINPUTPROCESS/SYSTEMOUTPUTVOICE OF CUSTOMERPROCESS CONTROL SYSTEM MODELWITH FEEDBACK利用控制限區隔是否為非機遇性控制圖的目的管制和一般的統計圖不同，因其不僅能將數值以曲線表示出來，以觀其變異之趨勢，且能顯示變異係屬於機遇性或非機遇性，以指示某種現象是否正常，而採取適當之措施。控制圖種類(以數據來分)計量值控制圖平均值與全距控制圖平均值與標準差控制圖中位值與全距控制圖個別值與移動全距控制圖計數值控制圖不良率控制圖不良數控制圖缺點數控制圖單位缺點控制圖控制圖的選定計量值計數值資料性質n≧1不良數缺陷數樣本大小n≧2不良數或缺陷數“n”=1平均值Cl的性質一定不一定“n”是否一定單位大小是否一定“n”=10~25“n”是否較大中位數不一定“n”=2~5一定X-s圖X-R圖X-R圖X-Rm圖“p”圖“np”圖“c”圖“u”圖控制圖的選擇CASE STUDY質量特性樣本數選用什麼圖長度5重量10乙醇比重1電燈亮／不亮100每一百平方米的髒點100平方米搜集數據繪解析用控制圖是否穩定尋找異常原因繪直方圖是否滿足規格檢討機械、設備提升製程能力控制用控制圖控制圖的繪製流程解析用穩定控制用控制圖種類(依用途來分)管制用控制圖追查不正常原因迅速消除此項原因並且研究採取防止此項原因重複發生之措施。解析用控制圖決定方針用製程解析用製程能力研究用製程管制準備用計量值的分佈表達位置：中心值形狀：峰態分佈寬度抽樣μμ+k σμ-k σ控制圖原理說明群體平均值=μ標准差=σ控制圖原理μ±kσ在內的概率在外的概率μ±0.67σ50.00%50.00%μ±1σ68.26%31.74%μ±1.96σ95.00%5.00%μ±2σ95.45%4.55%μ±2.58σ99.00%1.00%μ±3σ99.73%0.27%99.73%95.45%68.26%-3σ-2σ-1σ+1σ+2σ+3σμ正態分佈概率中央極限定理有限群體修正係數控制圖原理說明個別值的正態分佈平均值的正態分佈控制圖的正態分佈管制界限和規格界限規格界限：是用以說明品質特性之最大許可值，來保證各個單位產品之正確性能。管制界限：應用於一群單位產品集體之量度，這種量度是從一群中各個單位產品所得之觀測值所計算出來者。材料機器人環境測量方法製程的組成以及其波動的原因波