MLCC测试分析和总结.pdfVIP

你有没有遇到过这种情况—— MLCC （多层陶瓷电容）测量值要么较低，要么超出 规格。 其实，很可能你在做测试时的第一步就走错了…… 在下面的视频中，将告诉你“为什么”，并且手把手教你应该如何正确 测试 MLCC 。 一、 测试参数及测试条件 我们一般通过测量陶瓷电容器的容值 C 、Q 值/D.F. 值、绝缘电阻 I.R.值来初步判断 电容的参数是否在规格范围内，是否存在不良。 要注意的是，再精密的仪器测出的数据也只是测量值，由于存在环境，设备等多方 面因素干扰，测量值只能尽可能地接近真实值。另外，随着市场需求多样化，陶瓷 电容的种类繁多，测试条件并未完全统一，针对具体的型号的测量，请以对应规格 书中标注的为准。 对于容值， Q 值的测量，一般而言，我们针对不同温度特性（ TC ），不同容值的产 品，对应的测量条件（交流频率 电压）也不同。一类材质 Q 值较低，我们用 Q 值 作标准，二类材质 Q 值较高，我们往往用其倒数 D.F.值作标准。如下表： 理想的电容器电阻无限大， 但是实际电容加压后会有微小电流流过， 其绝缘电阻 I.R. 存在有限值。 当给电容施加电压后，会有充电电流产生，并呈指数下降，如下图。为准确测量漏 电流值，我们一般在额定电压充电 1 分钟（或 2 分钟）后测量绝缘阻抗，判定标准 与额定容值有关，详见下表。 额定容 判定良品标 值 C 准 I.R.10000M C=47nF Ω I.R.500 C47nF Ω ·F 二、 测试设备 夹具 我们一般选用 LCR 电表即自动平衡电桥法测量容值和 Q 值，用高阻计测量 IR 值。 工具包括： LCR 电表（ Keysight E4980）, 夹具（ 16034E, 16334A）,高阻计（ Agilent 4339B ）, 镊子等。 三、 测试流程 1. 预热被测品 由于陶瓷材料特性，特别是高容品选用了高介电常数材料，久置后因内部晶格结构 改变，容值会有所下降， 此时测量会出现偏差， 故需要先进行预热。 一般执行在 140～ 150℃，持续 1 小时的热处理，再放置 24+/-2 小时。 2. 设备校准 先启动设备电源，预热半小时使设备稳定工作，安装夹具。 校准 （Calibration ）对于精确测量非常重要。 先保持夹具探头两端距离与被测件长度 一致，进行开路校准；再使夹具两端接触，进行短路校准。设备操作详见对应的说 明书。 3. 补偿 如果选用 16334A 等带一定长度导线的夹具，需对应设置 CABLE 补偿值，如 1 米， 以减小夹具带来的寄生参数的影响。 4. 测量条件设 置 根据规格书要求设置合适的交流电压，频率。 对于容值大于 1uF 电容，打开 ALC 自 动电平控制功能， 使实测时被测件两端电压保持恒定， 否则很可能测出的容值偏低。 5. 参数显示设置 有两种电路模式显示测量结果，一种是 Cp 并联模式，一种是 Cs 串联模式。一般而 言，测小容值大电抗用 Cp 模式，测大容值