集成电路芯片测试技术教学课件32开短路测试原理简介.pptxVIP

集成电路芯片测试技术开短路测试简介目录/Contents01开短路测试简介对地开短路测试02对电源开短路测试03开短路测试简介开短路测试，也称为Open/Short test，是集成电路测试最基本的测试项目，其目的是确认集成电路芯片在测试过程中，被测器件的所有管脚与测试机相应的通道在电气性能上连接良好，同时验证被测器件的管脚与其他信号引脚、电源或地有无开短路现象。开短路测试可分为对地开端路测试和对电源开短路测试两种。开短路测试原理简介如图所示，集成电路开短路测试的原理，其实是基于数字集成电路自身管脚集成的ESD防静电保护二极管的正向导通压降的原理进行测试，需要进行开短路测试的集成电路，其引脚和地之间或者引脚和电源之间，都有ESD保护二极管，利用该ESD保护二极管正向导通的原理，就可以判别该引脚是否正常。对地开短路测试情况一：开短路测试正常如图所示，如果要测试芯片管脚Pin1对地的开短路情况，可以从Pin1处抽取一个小电流I1（通常在几十微安到几个毫安），然后测量V1电压，如果Pin1正常连接，则Pin1和GND之间，将存在一个压差，其大小为Pin1与GND之间的ESD二极管的导通压降，大约在0.7 V左右。如果考虑电压方向，则V1电压的测量结果大约为-0.7 V左右。对地开短路测试情况二：开路异常如图所示，如果Pin1存在开路异常，则ESD二极管断开，Pin1和地之间的电阻相当于无穷大，则在抽取电流I1时，V1的电压将无限小，实际测试时该电压会受测试源本身存在的钳位电压，或者受电压量程档位电压限制达到一个极限，例如某测试机的钳位电压为-2V，则此时测试到的V1电压大约为-2V左右。对地开短路测试情况三：短路异常如图所示，如果Pin1与地存在短路异常，则ESD二极管被短路，Pin1和地之间的电阻接近为0欧姆，此时不论I1的电流为多少，测试出的电压V1都趋近于0V。对电源开短路测试同样的原理，如果要测量Pin1和电源Vdd之间的开短路情况，则可以将Vdd通过测试源加到0V或直接将Vdd接地，引出ESD保护二极管的正向导通电流I2，通过测试二极管的正向导通压降判断是否存在开短路异常。此时要注意I2的电流方向和I1的电流方向正好相反，此时V1的电压为正电压。谢谢大家！