集成电路芯片测试技术教学课件33 74HC138芯片开短路测试.pptxVIP

集成电路芯片测试技术 74HC138芯片开短路测试 目录/Contents 74HC138芯片简介 74HC138为一款常用的高速CMOS三线-八线译码器芯片,该芯片具有三个二进制加权地址输入端，8个有源输出端口，该芯片的功能是将输入的三位二进制地址代码（000～111）翻译成对应的一根输出线上的高、低电平信号。为了便于扩展，74HC138内部集成了三个使能端口，分别为两个低电平有效使能端口，一个高电平有效使能端口，74HC138芯片的管脚功能图如图所示。 74HC138芯片管脚图 74HC138芯片简介 74HC138真值表 Enable Input Output G1 G2 C B A Y0 Y1 Y2 Y3 Y4 Y5 Y6 Y7 X H X X X H H H H H H H H L X X X X H H H H H H H H H L L L L L H H H H H H H H L L L H H L H H H H H H H L L H L H H L H H H H H H L L H H H H H L H H H H H L H L L H H H H L H H H H L H L H H H H H H L H H H L H H L H H H H H H L H H L H H H H H H H H H H L 测试电路设计 基于LK8820测试机的开短路测试电路图 对地开短路测试 首先进行芯片对地开短路测试，测试时分别在PIN1~PIN8端口施加-100mA电流（即从端口朝外引出100mA电流），测试此时端口的电压值V1，若测得的电压值范围为-1.2V≤V1≤-0.3V，则该芯片内部的ESD二极管工作正常，且芯片引脚与测试设备的接触良好，若V1-0.3V则说明芯片内部的ESD二极管出现了短路异常，若V1-1.2V ，则说明芯片内部出现开路或引脚与测试机接触不良导致芯片开路。 对地开短路测试 74HC138芯片对地开短路测试原理图 对电源开短路测试 然后进行芯片对电源开短路测试，测试时分别在PIN1~PIN8端口施加100mA电流（即从端口向内灌入100mA电流），测试此时端口的电压值V2，若测得的电压值范围为0.3V≤V2≤1.2V，则该芯片内部的ESD二极管工作正常，且芯片引脚与测试设备的接触良好，若V20.3V，则说明芯片内部的ESD二极管出现了短路异常，若V21.2V，则说明芯片内部出现开路或引脚与测试机接触不良导致芯片开路。 对电源开短路测试 74HC138芯片对电源开短路测试原理图 谢谢大家！