原子力显微镜的原理及应用.pptVIP

Atomic Force Microscopy 原子力显微镜（AFM）;目录：;高级显微镜;;隧道效应;AFM出现的意义;成 像 原 理;恒定力量或者恒定高度;探针如何成像;表面形貌和材料如何测量;AFM有多种工作模式;接触式原子力显微镜;特点：;接触式（ contact mode）;非接触式原子力显微镜;特点：;非接触式（non contact mode）;间歇接触式原子力显微镜;;特点：;间歇接触式（tapping mode）;原子力显微镜的构成;;在原子力显微镜的系统中，可分成三个部分：力检测部分、位置检测部分、反馈系统。;力检测部分：???????在原子力显微镜（AFM）的系统中，所要检测的力是原子与原子之间的范德华力。所以在本系统中是使用微小悬臂（cantilever）来检测原子之间力的变化量。这微小悬臂有一定的规格，例如：长度、宽度、弹性系数以及针尖的形状，而这些规格的选择是依照样品的特性，以及操作模式的不同，而选择不同类型的探针。 ;;位置检测部分：???????在原子力显微镜（AFM）的系统中，当针尖与样品之间有了交互作用之后，会使得悬臂（cantilever）摆动，所以当激光照射在cantilever的末端时，其反射光的位置也会因为cantilever摆动而有所改变，这就造成偏移量的产生。在整个系统中是依靠激光光斑位置检测器将偏