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PAGE PAGE 1 FPGA寄存器TCO的测试方法与流程 【技术领域】本创造涉及测试技术领域，尤其涉及一种fpga寄存器tco的测试方法。背景技术：寄存器tco(globalclocktooutputdelay，时钟上升沿与输出端数据稳定输出的时间差)作为fpga的重要参数，目前的测试方法一般接受一般测试板，制作环振并通过示波器观看进行测试。1所示，为现有技术中的一种环振测试tco测试设计原理图，该电路是为4个寄存器tco级联的测试原理图，gsr复位之后，te由0到1，tclk产生一个环振的时钟，其周期等于4个寄存器tco值之和，对应的时序图2所示，用法示波器观看tclk并记录其周期。该测试方法存在以下缺点：1、肉眼用法示波器观看，误差较大；2、非自动化测试，人工测试效率低；3、需要测试多个电压、多个温度的时候，测试时间较长；4、无法与可自动化测试的参数一同测试，需单独用法示波器观看。技术实现要素：本创造的目的在于供应了一种用于实现fpga寄存器tco的测试方法。为达到上述目的，本创造供应一种fpga寄存器tco的测试方法，用于所述fpga中寄存器tco的测试，所述测试方法包括以下步骤：步骤s1、生成用于所述寄存器tco测试的测试用例，所述测试用例包括位流文件和atp文件；步骤s2、依据所述测试用例执行所述寄存器tco