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实验二 TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试 一、 实验目的 1、 掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法 2、 掌握TTL器件的使用规则 3 、进一步熟悉数字电路实验装置的结构，基本功能和使用方法 二、 实验原理 本实验采用四输入双与非门74LS20即在一块集成块内含有两个互相独立的 与非门，每个与非门有四个输入端。其逻辑框图、符号及引脚排列如图2—1(a)、 (b)、(c)所示。 arcd-flT□R1_R(a)TFTT A BCDs】2 3 4 arcd -fl T □R 1_ R (a) TFTT A BCD s 】2 3 4 o 6 7 (C) 图2 — 1 74LS20逻辑框图、逻辑符号及引脚排列 1 、与非门的逻辑功能 与非门的逻辑功能是：当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出 端为高电平；只有当输入端全部为高电平时，输出端才是低电平(即有“ 0” 得 “1”，全“ 1” 得“ 0”。 其逻辑表达式为丫 = ■ 2、TTL与非门的主要参数 ⑴ 低电平输出电源电流I CCL和高电平输出电源电流I CCH 与非门处于不同的工作状态，电源提供的电流是不同的。 I CCL是指所有输 入端悬空，输出端空载时，电源提供器件的电流。 ICCH是指输出端空截，每 个门各有一个以上的输入端接地， 其余输入端悬空，电源提供给器件的电流。 通常|ccl Icch它们的大