一集成逻辑门电路的测试与使用.pdfVIP

信息学院《数字电子技术》实验讲义 实验一：集成逻辑门电路的测试与使用 一． 实验目的： 1．学会检测常用集成门电路的好坏的简易方法； 2．掌握 TTL 与非门逻辑功能和主要参数的测试方法； 3．掌握 TTL 门电路与 CMOS 门电路的主要区别。 二． 实验仪器与器件： 1．元器件： 74LS20、74LS00(TTL 门电路) ，4011(CMOS 门电路 ) ； 2．实验仪器：稳压电源、万用表、数字逻辑实验测试台。 三． 实验原理： 1．集成逻辑门电路的管脚排列： （1） 74LS20 （4 输入端双与非门） ：Y= ABCD V CC 2A 2B NC 2C 2D 2Y 14 13 12 11 10 9 8 1 2 3 4 5 6 7 1A 1B NC 1C 1D 1Y GND V CC：表示电源正极、 GND：表示电源负极、 NC：表示空脚。 （2 ） 74LS00 （2 输入端 4 与非门）：Y= AB V CC 4A 4B 4Y 3A 3B 3Y 14 13 12 11 10 9 8 1 2 3 4 5 6 7 1A 1B 1Y 2A 2B 2Y GND - 1 - 信息学院《数字电子技术》实验讲义 （3 ） 4011 （2 输入端 4 与非门）： Y= AB V CC 4A 4B 4Y 3Y 3B 3A 14 13 12 11 10 9 8 1 2 3 4 5 6 7 1A 1B 1Y 2Y 2B 2A GND 集成门电路管脚的识别方法： 将集成门电路的文字标注正对着自己， 左下角 为 1，然后逆时针方向数管脚。 2．TTL 与非门的主要参数有： 导通电源电流 ICCL 、低电平输入电流 IIL 、高电平输入电流 IIH 、输出高电平 V OH 、输出低电平 V OL 、阈值电压 V TH 等。 注意：不同型号的集成门电路其测试条件及规范值是不同的。 3．检测集成门电路的好坏的简易方法： （1） 在未加电源时，利用万用表的电阻档检查各管脚之间是否有短路 现象； （2 ） 加电源：利用万用表的电压档首先检查集成电路上是否有电，然 后再利用门电路的逻辑功能检查电路。 例如：“与非”门逻辑功能是： “见低出高，同高出低”。 对于 TTL 与非门：若将全部输入端悬空测得输出电压小于 0.4V ，将 任一输入端接地测得输出电压大于 3.5V，则说明该门是好的。 思考： COMS 与非门如何测试。 四． 实验内容和步骤： 1．将 74LS20 加上 +5V 电压，检查集成门电路的好坏。 2．TTL 与非门的主要参数测试： （1）导通电源电流 ICCL= 。 测试条件： V CC=5V ，输入端悬空，