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;“测量” 的定义;“测量系统” 的定义;“量具” 的定义;;测量在质量管理体系中的地位;制程控制;实施MSA的目的和意义 ;实施MSA的范围;何时做MSA;测量系统的使用
在您的组织中,需要测量哪些加工和/或产品特性?
列出这些测量数据在您的组织中应用的地方及应用目的:
;测量系统的质量
一个[好的或高品质]的测量具备哪些特性?
零的偏差及变化量
一个[差的或低品质]的测量具备哪些特性?
;范围;评价测量系统三个基本问题;常用定义;量具分辨率与数据分布图;测量系统
分辨率要求:
识别产品的好坏
识别制程的变差,不断改善
是过程变差的十分之一
考虑一个产品,其规格为10±0.5, 而产品测量使用直尺, 其读数为10,10,10,…..,这样的测量系统有问题吗?;;测量数据的品质;量测系统应具备的特性;测量系统
统计控制示意;;Cp = USL - LSL;
测量系统本身
外来环境的影响;影响测量结果的因素; 数据偏差的来源;; 测量系统的因素;量测系统变异(Bias);量测系统变异(Repeatability);量测系统变异(Reproducibility);量测系统变异(Stability);量测系统变异(Linearity);量测系统的变异分布;如果偏差相对较大-可能的原因;如果量测系统为非线性-可能的原因; 测量系统因素的控制;测量系统的评估;选择或制定一个评定方法 需考虑问题包括:;标准追溯; 量度标准; 量度标准;优、缺点;W. Edwards Deming(戴明);量测系统准备步骤;稳定性(Stability)
是测量系统在某持续时间内测量同一基准或零件的单一特性时获得的测量值总变差;稳定性
1)选择基准件
2)定时测量基准件
3)根据测量数据制定Xbar-R图
4)观察数据是否处于统计制程控制
5)计算标准偏差 Sigma=Rbar/d2
6)将标准偏差与过程变化标准偏差比较.;偏倚(Bias)
是测量结果的观测平均值与基准值的差值
(基准是采用更高级别的检测设备得到的一致认可的数据);偏倚
1)首先用较高准确度的设备对基准件进行测量???次,计算平均值,得到基准值Xr.
2)再让评价人用待评价设备测量基准件至少十次以上,得到平均值Xbar.
3)偏倚 Bias=Xbar-Xr
4)偏倚% Bias%=[Bias/过程变差]*100%;线性(Linearity)
是在量具预期的工作范围内,偏倚值的差值.;线性
1)选择处于测量系统工作范围的部分零件,例如5~10件
2)利用高准确度设备测量其基准值Xir.
3)评价人使用待评价设备对每个零件测量多次(随机抽取),得出零件平均值Xibar
4)计算每个测量点的偏倚 Biasi=Xibar-Xir
5)划出Xir-Xibar线性相关图,计算线性斜率;线性
Y=b+aX X---基准值 Y---Bias a---斜率
a={Sum(xy)-Sum(x)*Sum(y)/n}/{Sum(x2)-[Sum(x)]2/n}
b=Sum(y/n)-a*Sum(x/n)
线性=斜率*过程变差
拟合优度R2={Sum(xy)-Sum(x)Sum(y)/n}2 /{[Sum(x2)-Sum(x)2/n]*[Sum(y2)-Sum(y)2/n]};计量型测量系统研究(1):极差法;计量值(1):极差法;计量值(1):极差法;计量值(2):均值与极差法;计量值(2):均值与极差法;计量值(2):均值与极差法;计量值(2):均值与极差法;计量值(2):均值与极差法;RR均值和极差法(Xbar-R法)
产品/制程变差
-原理:测量值的变化范围
-使用多人平均值的变化范围(去除测量者差异)
PV=Rp*K3 (K3=5.15/d2是常数)
总变差
TV=[(GRR)2+PV2]1/2
如已知过程变差Sigma, 也可 TV=5.15*Sigma;常用參數計算表;计量值(2):均值与极差法;计量值(2):均值与极差法;计量值(2):均值与极差法;计量值(2):均
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