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第六章 自动校准和自诊断;一、仪器的系统误差及其校准;二、仪器故障的检测和诊断;三、仪器故障的自检;自检的原理;自检必须解决的问题
怎样产生该部件的测试矢量集
怎样组成自检电路
怎样进行自检;6.2 仪器的内部自动校准;一、零点漂移和倍率变化;运算放大器的e和dk;结论：
1.由于A、Ri、R1、R2都随温度变化而变化，故实际的放大倍数会随温度变化发生温度漂移。
2.Eos、Ios和R1、R2均是温度的函数，所以，温度变化的时候，等效的零漂电压VOS也会随着变化。;串联的零漂电压和倍率;二、零点漂移的内部自??校准电路;三、倍率编译的内部自动校准;四、内部自动校准的程序流程;15;6.4 仪器中数字电路的故障检测;1.扫描技术;18;19;2.特征分析技术;常用数据流压缩和提取特征的方法;线性反馈移位寄存器;CP序号;24;25;26;27;3.环绕技术;二、数字电路各组成部分的故障检测;6.5 仪器中模拟电路的故障测试;31;32;6.6 仪器自检的安排;34;35;36
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