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附件一 杂质超标引起失效机理分析 电容器在使用或可靠性实验时内部杂质超标引起的失效现象，主要有：腐蚀、击穿、起鼓及漏液等。 一.腐蚀，主要有两种： 1.CL-、SO42-富集引起腐蚀，即化学腐蚀。 1.1在电场强度的作用下，CL-、SO42-向阳极区（如：阳极箔、正极引线、正极华司铆钉等）移动富集。由于曲率半径大（如：引条折叠处、铆接不实处等）的地方，电场强度也大，造成阴离子在该处富集的可能性也大。 1.2富集处，PH降低，即该处被酸化，从而进一步溶解AL造成腐蚀。 CL- + AL3+ ALCL3 ， ALCL3 + H2O AL(OH)3 +HCL， HCL + AL ALCL3 +H2 A.整个过程CL-循环使用； B.过程中要有的H2O参与，且H2O、CL-越多腐蚀越严重； C.整个反应过程放出热量和H2，增大产品温升和内压，又进一步促使整个反应进行。 2. Cu、Fe杂质粒子与AL形成原电池引起腐蚀，即电化学腐蚀。 2.1.Cu、Fe的电极电势比AL的高，且有相应电解质的参与时，有电子从AL流向Cu、Fe形成电子电流，即原电池。 2.2.过程反应式如下：AL–e- AL3+， H+ + e- H2， AL3+ + OH- AL(OH)3 A.过程中H2O以H+、OH-的形式吸附在Cu的周围，参与反