tftlcd面板玻璃减薄工艺流程及不良简介.pptxVIP

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Contents 2 第1页/共25页 第一页,编辑于星期日:点 十五分。 减薄的作用 1.减少占有的空间 2.使Glass达到一定的柔性 3 第2页/共25页 第二页,编辑于星期日:点 十五分。 减薄工艺简介 4 第3页/共25页 第三页,编辑于星期日:点 十五分。 封胶 一般在这之前还会进行检查。 涂胶后静置1min。 清除多的UV胶。 UV固化后检查 5 第4页/共25页 第四页,编辑于星期日:点 十五分。 封胶 UV固化 UV灯 涂胶后检查 涂胶 加盖遮光垫 6 第5页/共25页 第五页,编辑于星期日:点 十五分。 原理及方式 单片直立喷洒 瀑布流 多片直立浸泡 原理 1 2 3 4 减薄原理及方式 6HF+SiO2-H2SiF6+2H2O 液体+固体(玻璃)-液体 7 第6页/共25页 第六页,编辑于星期日:点 十五分。 单片直立喷洒 瀑布流 优点: 1.可以满足两面不同蚀刻要求。多片缺点: 1.蚀刻表面易产生凹点。 优点: 1.表面最光滑,甚至可以不用抛光 三种方式优缺点 8 第7页/共25页 第七页,编辑于星期日:点 十五分。 Text in here 蚀刻 清洗 减薄流程 9 第8页/共25页 第八页,编辑于星期日:点 十五分。 10 减薄设备 其余组件: 供酸装置 HF酸浓度计 温度控制器 洗气装置 第9页/共25页 第九页,编辑于星期日:点 十五分。 11 减薄工艺参数 1.反应时间与玻璃质量损失的关系 图1.反应时间与玻璃质量损失之间的关系 第10页/共25页 第十页,编辑于星期日:点 十五分。 12 减薄工艺参数 2.反应速率与反应温度的关系 图2.玻璃在HF酸中反应速率与反应温度之间的关系 第11页/共25页 第十一页,编辑于星期日:点 十五分。 13 减薄工艺参数 3.反应速率与HF酸浓度的关系 图3.玻璃在HF酸中反应速率与HF酸浓度之间的关系 说明: (HF)2是HF酸溶液中的最主要活性成分,因为以氢键形式存在的H-F键比HF分子中的H-F键更脆弱,与SiO2反应时更容易断裂。 第12页/共25页 第十二页,编辑于星期日:点 十五分。 14 减薄清洗单元(后) 第13页/共25页 第十三页,编辑于星期日:点 十五分。 清洗 外观检查 Polishing 外观检查 Reject Item 自动研磨 手动研磨 Picture 适应产品 无破损产品 所有产品 可修复不良 不良率高发,严重不良 不良率较低的轻微不良 CAPA Q-panel抛光,效率高 针对单点不良修复,效率低 研磨 15 第14页/共25页 第十四页,编辑于星期日:点 十五分。 16 减薄工艺自身不良 第15页/共25页 第十五页,编辑于星期日:点 十五分。 17 减薄工艺自身不良 玻璃本身含有杂质. 1. 除胶未干净,有残留 2. PT等未清洗干净 1. 设备故障(Conveyer) 2.瀑布流分叉(瀑布流蚀刻方式) 3.Nozzle堵塞(喷淋式蚀刻方式) 玻璃被蚀刻时局部蚀刻不一致 工艺设备 玻璃表面 玻璃本身 第16页/共25页 第十六页,编辑于星期日:点 十五分。 18 Slimming后划伤 第17页/共25页 第十七页,编辑于星期日:点 十五分。 19 Slimming后划伤 Lift Pin 凹点 第18页/共25页 第十八页,编辑于星期日:点 十五分。 20 Slimming后划伤 2.Robot吸盘凹点 第19页/共25页 第十九页,编辑于星期日:点 十五分。 21 Slimming后划伤 3.轮印 第20页/共25页 第二十页,编辑于星期日:点 十五分。 22 造成B-ITO不良 现象: ADS产品做完B-ITO后,产品与BOX接触的位置ITO被严重腐蚀 ,类似产品表面水干燥后残留的印记。 原因: BOX在Slimming车间长期周转,slimming车间内酸气长期在BOX表面附着,从而使BOX表面呈现酸性 1.水渍酸印 第21页/共25页 第二十一页,编辑于星期日:点 十五分。 23 其它不良 1.电阻超标 原因: 酸残留 第22页/共25页 第二十二页,编辑于星期日:点 十五分。 与减薄有关的性耐性 24 第23页/共25页 第二十三页,编辑于星期日:点 十五分。 End 25 谢谢! 第24页/共25页 第二十四页,编辑于星期日:点 十五分。 感谢您的观看。 第25页/共25页 第二十五页,编辑于星期日:点 十五分。

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