IC封装测试流程详解.pptVIP

  • 3
  • 0
  • 约7.07千字
  • 约 42页
  • 2022-01-17 发布于湖北
  • 举报
最新. FOL– Die Attach 芯片粘接 芯片拾取过程: 1、Ejector Pin从wafer下方的Mylar顶起芯片,使之便于 脱离蓝膜; 2、Collect/Pick up head从上方吸起芯片,完成从Wafer 到L/F的运输过程; 3、Collect以一定的力将芯片Bond在点有银浆的L/F 的Pad上,具体位置可控; 4、Bond Head Resolution: X-0.2um;Y-0.5um;Z-1.25um; 5、Bond Head Speed:1.3m/s; * 精选文档 最新. FOL– Die Attach 芯片粘接 Epoxy Write: Coverage 75%; Die Attach: Placement0.05mm; * 精选文档 最新. FOL– Epoxy Cure 银浆固化 银浆固化: 175°C,1个小时; N2环境,防止氧化: Die Attach质量检查: Die Shear〔芯片剪切力〕 * 精选文档 最新. FOL– Wire Bonding 引线焊接 利用高纯度的金线〔Au〕 、铜线〔Cu〕或铝线〔Al〕把 Pad 和 Lead通过焊接的方法连接起来。Pad是芯片上电路的外接 点,Lead是 Lead Frame上的 连接点。 W/B是封装工艺中最

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档