DC-LIN EPL 外围接口设计注意事项、一致性测试方案.pdfVIP

GB/T XXXXX—XXXX/ISO 17987-8:2019 附 录 A （资料性） DC-LIN EPL 外围接口设计注意事项 DC-LIN EPL节点与直流电源线之间的接口示例如图A.1所示。 示例展示了3个DC-LIN EPL节点连接到直流电源线。为降低从电源供给滤波得到的DC-LlN EPL载波 信号的衰减，在电源供给中串联电感或低频磁环。 图A.1 DC-LIN EPL 耦合示例 26 GB/T XXXXX—XXXX/ISO 17987-8:2019 附 录 B （规范性） DC-LIN EPL 一致性测试方案 B.1 概述 本附件规定了DC-LIN EPL一致性测试方案。 B.2 通用测试方案规范注意事项 B.2.1 测试条件 测试应在室温（15 ℃～35 ℃）下进行。 B.2.2 测试用例结构 在每个测试用例的描述中，规定了测试用例适用的DC-LIN EPL类型是主节点或从节点。 每个测试用例规范由9个部分组成。 ——CTC # -标题： 一致性测试用例的通用标题前缀。 ——目的： 简短的概述测试用例试图实现的目标。 ——参考： 定义对GB/T 17987系列的该部分或其他部分的引用。 ——前提： 定义测试设置。 ——设置： 定义IUT配置(见B.2.4.5)。 ——步骤： 定义用于执行测试用例的测试步骤。 如果在此阶段中定义了多个步骤，则应按照文档中规定的顺序执行这些步骤。 ——循环： 定义测试过程测试步骤的重复次数。 ——预期响应： 定义执行测试步骤时IUT的预期响应。 ——备注： 包含测试用例的已知问题的描述，在某些情况下可能会影响测试结果。 B.2.3 IUT通用规范 本文件中规定的DC-LIN EPL测试用例适用于IUT的RXD和TXD可用接口和line-in与line-out可用接 口。 B.2.4 测试系统要求 27 GB/T XXXXX—XXXX/ISO 17987-8:2019 B.2.4.1 LIN 帧的生成 测试系统应确保本文件规定的主节点的位时间的精度。 B.2.4.2 测试用例的基本要求 为了正确地测量和验证测试模式（见表B.1），测试系统应以最小采样因子16进行测试。 采样精度的定义如公式（B.1）所示。 采样精度= /16⁡ ……………………… （B.1） BIT B.2.4.3 位时间测试的特殊要求 为了正确地测量和验证位时间，测试系统应以最小采样10进行测试，以达到本文件中给出的DC-LIN EPL比特率偏差。 位时间精度的定义如公式（B.2）所示。 位时间采样精度= BIT ×0.0005⁡ …………………… （B.2） B.2.4.4 测试系统配置 在测试用例定义下给出了详细的测试系统配置。测试系统的实现方