ONT-硬件测试方案.doc

PAGE 54 G420F硬件测试方案 项目名称： 文件编号： 编制日期： 拟制 审核 批准  目录 TOC \o 1-2 \h \z \u 1 目录 2 2 概述 7 2.1 文档版本说明 7 2.2 单板名称及版本号 7 2.3 测试计划 7 2.4 判据主要参考器件 7 3 信号完整性测试 8 3.1 电源幅值测试 8 3.2 电源纹波测试 10 3.3 电源噪声测试 12 3.4 电源上电时间测试 14 3.5 电源上电及复位时序测试 15 3.6 Dying Gasp信号测试 16 3.7 电源电流测试 18 3.8 整机功耗测试 20 3.9 时钟测试 22 3.10 信号质量测试 25 3.11 SPI总线时序测试 28 3.12 GMII总线时序测试 30 3.13 SerDes总线眼图测试 32 3.14 以太网兼容性测试 33 4 PON接口参数测试 34 4.1 平均发射光功率测试 34 4.2 平均关断发射光功率测试 36 4.3 发射光中心波长测试 37 4.4 最大均方根谱宽测试 38 4.5 最小边模抑制比测试 39 4.6 光调制幅度测试 40 4.7 发射光眼图测试 41 4.8 发射消光比测试 42 4.9 发射抖动测试 43 4.10 发射光上升沿下降沿时间测试 44 4.11 突发开启关闭时间测试 45 4.12 TX_SD开启关闭延时测试 47 4.13 接收灵敏度测试 49 4.14 接收过载光功率测试 51 4.15 接收功率有效阈值测试 52 4.16 DDMI验证测试 53 5 温度测试 55 5.1 关键器件表面温度测试 55 6 环境测试 57 6.1 低温贮存测试 57 6.2 高温贮存测试 59 6.3 低温工作测试 61 6.4 高温工作测试 64 6.5 高低温循环测试 67 6.6 高温高湿工作测试 69 7 附件 72 7.1 电源幅值测试波形 72 7.2 电源纹波测试波形 72 7.3 电源噪声测试波形 72 7.4 电源上电时间测试波形 72 7.5 电源上电及复位时序测试波形 72 7.6 Dying Gasp信号测试波形 72 7.7 电源电流测试波形 72 7.8 功耗测试波形 72 7.9 时钟测试波形 72 7.10 信号质量测试波形 72 7.11 SPI总线时序测试波形 72 7.12 GMII总线时序测试波形 73 7.13 SerDes眼图测试波形 73 7.14 以太网兼容性测试 73 7.15 发射光眼图测试波形 73 图目录 TOC \h \z \c 图 图 31 电源幅值测试组网图 9 图 32 SPI总线读写时序示意图 28 图 33 GMII总线接收时序示意图 30 图 41 平均发射光功率测试组网图 35 图 42 平均关断光功率测试组网图 36 图 43 发射光中心波长测试组网图 37 图 44 发射光调制幅度测试组网图 40 图 45 突发开启关闭时间测试组网图 46 图 46 接收灵敏度测试组网图 49 图 61 低温贮存实验曲线 58 图 62 高温贮存实验曲线 60 图 63 低温工作实验曲线 62 图 64 高温工作实验曲线 65 图 65 高低温循环实验曲线 68 图 66 高温高湿工作实验曲线 70 表目录 TOC \h \z \c 表 表 31 电源幅值测试数据 9 表 32 电源纹波值测试数据 10 表 33 电源噪声测试数据 12 表 34 电源上电时间测试数据 14 表 35 电源上电及复位时序测试数据 15 表 36 Dying Gasp信号测试数据 16 表 37 电源电流