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- | 2016-08-29 颁布
- | 2017-03-01 实施
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ICS 31.200
L 55
中 华 人 民 共 和 国 国 家 标 准
GB/T 32816—2016
硅基MEMS 制造技术
以深刻蚀与键合为核心的工艺集成规范
Silicon-based MEiMS fabrication technology一
Specification for criterion of the combination
of the deep etching and bonding process
2016-08-29 发布 2017-03-01 实施
C B /T 32816— 2016
目 次
I
1 范 围 1
2 规范性引用文件1
3 术语和定义 1
4 工艺流程 1
4.1 . 1
4 . 2 硅 片 选 择 1
4 . 3 键 合区 制 备 1
4 . 4 玻璃片金属电极制备 5
4 . 5 硅玻璃阳极键 8
4 . 6 深刻蚀结构释放 9
4.7 知J# 11
5 工艺保障条件要求11
5 . 1 人员要求 11
5.2 环境要求 11
5 . 3 设备要求 12
6 原紂料要求 12
7 安全与环境操作要求 13
7.1 安 4 13
7 . 2 化学试剂 13
7.3 13
8 检 验 13
8.1 棚 13
8 . 2 硅片十法刻蚀结构释放关键T:序检验13
8.3 最终检验 14
G B /T 32816— 2016
前
本标准按照GB/T 1.1 -2009给出的规则起单a
本标准由全W 微机电技术标准化技术委员会CSAC/TC 336)提出并归
本标准主要起苹中位:北京大学、中机生产力促进中心、大连理工大学、北京 i? 鸟元芯微系统科技有
限公司.
本标准主要起草人:张大成、杨芳、李海斌、王玮、何年、黄贤、刘冲、刘伟、邹赫麟、田大宇、荽博岩。
G B /T 32816— 2016
硅 基 M EM S 制造技术
以深刻蚀与键合为核心的工艺集成规范
1 范围
本标准规定:T采用以深刻蚀与键合为核心的工艺集成进行M EM S 器件加工时应遵循的工艺要求
和质M 检验要求#
本标准适用于基于以深刻蚀与键合为核心的工艺集成的加工和质 fi 检验。
2 规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的.凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文
件# 凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有
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