涡流测厚仪期间核查.docx

ED200型涡流测厚仪期间核查方法 概述 本规程适用于ED200型涡流测厚仪的核查。该仪器具有快速、方便、非破坏性的特点，适用于测量各种有色金属基体上绝缘性覆盖层的厚度，主要用于测量铝型材表面的氧化膜或涂漆层厚度，也可用于测量建筑用铝塑复合板表面氟碳涂层的厚度。 技术要求 测量精度：±3％±0.5um 核查器具和/或物质 校准基体（6063铝合金）一块 校准箔片3片 核查环境条件 仪器使用温度0～40℃ 核查方法 仪器的校准工作应在开机1～2分钟后进行，采用多点校准法。多点校准使用基体试块和选定的三个校准箔片进行。 按校准键，仪器进入校准状态。显示器上提示ZERO，显示“0.0”。 基体上测量5～10次，仪器显示原有零点的平均值。 按校准键，仪器接受新的零点，提示STD1，显示“0.0”。 将厚度值最小的箔片放在到基体上，在圆圈内测量5～10次，显示值为各次测量的平均值。 用上调键或下调键将显示值调整到箔片的厚度值。 按校准键，仪器存入该校准值后，提示STD2，显示“0.0”。 重复⒋～⒍点的操作，校准其余两个标准箔片。 完成上述操作后，仪器退出校准状态，显示一下“”之后，显示“0”，进行测量状态。 在测量状态下分别测量三片标准箔片的厚度，每个标准箔片测量五次，结果取算术平均值。 核查结果的判定及处理 若核查结果符合技术要求，则判定该仪器设备期间核查合格,反之判定为不合格,并按《仪器设备控制与管理程序》规定执行。 核查周期 一年 记录 核查记录按附表填写，并按《记录和档案管理程序》规定执行。 ■ STYLEREF 标题 2 JYT3q-11-K 共1页第 PAGE 1页 审核： 核查： 核查日期： 仪器设备期间核查记录 共1页 第1页 仪器设备名称：ED200型涡流测厚仪 仪器设备编号： 核查器具和/或物质编号：SBJ21 环境条件： 核查项目 标准厚度（um） 允许偏差（um） 核查数据（um） 单项评定 测值 平均值 覆盖层厚度 ±3％±0.5um 核查结论 备注