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名词解释
p 型和 n 型半导体
漂移和扩散
简并半导体
异质结
量子隧穿
耗尽区
阈值电压
CMOS
欧姆接触
肖特基势垒接触
简答与画图
1. 从能带的角度分析金属、半导体和绝缘体之间的区别。
2. 分析 pn 结电流及耗尽区宽度与偏压的关系。
3. 什么是 pn 结的整流(单向导电)特性?画出理想pn 结电流- 电压曲线示意图。
4. BJT 各区的结构有何特点?为什么?
5. BJT 有哪几种工作模式,各模式的偏置情况怎样?
6. 画出 p-n-p BJT 工作在放大模式下的空穴电流分布。
7. MOS 二极管的金属偏压对半导体的影响有哪些?
8. MOSFET 中的沟道是多子积累、弱反型还是强反型?强反型的判据是什么?
9. 当 VG 大于 VT 且保持不变时,画出 MOSFET 的 I-V 曲线,并画出在线性区、非线 性区和饱和区时的沟道形状。
10. MOSFET 的阈值电压与哪些因素有关?
11. 半导体存储器的详细分类是怎样的?日常使用的U 盘属于哪种类型的存储器,画出 其基本单元的结构示意图,并简要说明其工作原理。
12. 画出不同偏压下,金属与 n 型半导体接触的能带图。
13. 金属与半导体可以形成哪两种类型的接触? MESFET 中的三个金属-半导体接触分 别是哪种类型?
14. 对于一耗尽型 MESFET,画出 VG=0, -0.5, - 1V (均大于阈值电压)时的 I-V 曲线示 意图。
15. 画出隧道二极管的 I-V 曲线,并画出电流为谷值时对应的能带图。
16. 两能级间的基本跃迁过程有哪些,发光二极管及激光器的主要跃迁机制分别是哪 种?
计算
Pn 结的内建电势及耗尽区宽度
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T=300K
Si: ,
GaAs: ,
, ,
Si: GaAs:
,
1. 计算一砷化镓 p-n 结在 300K 时的内建电势及耗尽区宽度, 其 NA=1018cm-3 和 ND=1016cm-3.
=1.29V
=0.596μm
2. 一砷化镓单边突变结,其 NA=1019cm-3 ,ND =1015cm-3 ,计 算在反向偏压 20V 时的最大内建电场(T=300K).
=5.238μm
=7.64×104V/cm
3. 对一砷化镓突变结,其中 NA=2×1019cm-3 ,ND = 8×1015cm-3 ,计算零偏压和反向偏压 4V 时的结电容(T= 300K).
=1.34V
=0.48μm(0V), 0.96μm(-4V)
=2.29×10-8 F/cm2(0V), 1.14×10-8 F/cm2 (-4V)
4. 对于硅 p+-n 单边突变结,其 ND=5×1017cm-3 ,计算其击穿 电压。设其临界电场为 6.2×105 V/cm.
=2.53V
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5. 已知在一理想晶体管中,各电流成分为: IEp =4mA、
IEn =0.02mA、ICp =3.95mA、ICn =0.002mA。求共射电流 增益 β0 及 ICEO 的值。
=0.983
è ICBO =0.34μA
=57.8
=20μA
6. 一 p-n-p 硅晶体管其射、基、集电极掺杂浓度分别为 5×1018cm-3 、2×1017cm-3 和 1016cm-3 。器件截面积为 0.2mm2 ,基区宽度为 1.0μm,射基结正向偏压为 0.5V。其 射、基、集电极中少数载流子的扩散系数分别为 52cm2/s、 40cm2/s 和 115cm2/s,而寿命分别为 10-8s、10-7s 和 10-6s。 求晶体管的共基电流增益。
=4.66×102cm-3
=7.2×10-4cm
=18.6 cm-3
=0.143×10-4A
=1.03×10-7A
=0.993
1. 试画出 VG =VT 时, n 衬底的理想 MOS 二极管的能带图。
2. 一 NA =5×1016cm-3 的金属-SiO2-Si 电容器,请计算表面耗尽 区的最大宽度。
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3. 假设氧化层中的氧化层陷阱电荷呈三角形分布, ρot (y)=q×5×1023 ×y (C/cm3 ),氧化层的厚度为 10nm。 试计算因 Qot 所导致的平带电压变化。
4. 一 n 沟道的 n+多晶硅-SiO2-Si MOSFET,其 NA =1017cm
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