CPK知识分析和总结.docxVIP

一﹑ 目的 (一)CPK 知識 用於預防;以了解和掌握工序的質量狀況能否滿足質量標准的規定的具體要求。 用於分析﹕以研究和找出工序不能符合質量標准的具體原因。 提供依據﹕為設計工藝﹐檢查部門在制定產品質量標准﹐設計工裝夾﹐進行工序設計﹐ 編制工藝規程﹐制定作業指導書﹐設立管理點。決定產品批訂檢驗方式等方面提供資料和依據。 二﹑ 范圍 適用于事業 8 部與品質活動相關的所有人員. 三﹑ 內容 名詞解釋: USL:標准上限 LSL ﹕標准下限 UCL: 控制上限 LCL:控制下限 CL :中心線 PQL:工序質量水帄 CP :工序能力指數 CPK: 調整工序能力指數分布中心與公差有偏離 LSL X CL USL 文 件 編 號 SDW-TN-Q0001 版 本 第 2 頁，共 7 頁  0 日 期:12/22/2000 SPC 知識培訓 工序能力﹕是指工序在一定時間處于穩定狀態下的工序實際加工能力。A.穩定狀態﹕ 原材料或上一道工序頭半成品按標准要求供應。 本工序按作業標准實施。 工序完成後﹐產品檢測按標准要求進行。 B.工序能力﹕質量上的能力﹐是工序固有的能力或者說上工序保証質量的能力。生產能力﹕數量上能力 C.影響工序的因素﹕操作者﹑機器﹑原材料﹑工藝方法﹑環境。3．工序能力指數 CP 值衡量工序能力大小的值﹐反映工序分布狀況。 CP=(USL-LSL)/6δ 調整工序能力指數 CPK 值﹕是反映工序中心 X 的位置及規格限內的分布。CPK=MIN(CPU.CPL) CPU=(USL-X)/3δ CPL=(X-LSL)/3δ 樣本標准差δ﹕反映樣本離散程度 δ= (Xi-X2 ) /(n-1) 了解 CPK 走勢圖的制作過程﹕ CPK 走勢圖的分析與判斷﹕ CPK1 工序能力不足 CPK1 。33 工序能力尚可﹐基本滿足設計質量要求c．1．33 CPK1。67 工序能力充分理想狀態 d．CPK1 。67 工序能力過於充分提高工序能力對策﹕ a.CPK1.33 要求控制工序穩定性﹐工序能力過大﹕考慮降低成本﹐以免浪費。 工序能力過低﹕太多廢品。 b．1．0≦CPK ≦1。33 工序能力滿足要求﹐但不充分﹐有差超的危險﹐應加強工序控制。 改變工藝條件c．CPK1 。0 工序能力不足﹐不能滿足要求﹐采取改善措施 修改標准 嚴格進行全檢手段 提高工序能力指數途徑﹕ 以 CPK 計算公式入手﹕CPK=Min(USL-X).(X-LSL))/δ3 調整工序加工分布中心位置 X ﹐使 X 接近 CL 根據市場信息﹑設計要求﹐更改 SPC 文 件 編 號 SDW-TN-Q0001 版 本 第 3 頁，共 7 頁  0 日 期:12/22/2000 SPC 知識培訓 提高工序能力。減少離散程度δ 工藝方法 測量 方法 環境 設備﹑工裝精度 操作者水帄 離散性大 材料 環境 人員 材料 設備 意義﹕ 在管理﹑工段﹑作業或檢查方面存在的一些問題﹐能被這種技術發現新的問題通常包括品質﹑費用﹑信息﹑建立標准或預算出新的開發或調查研究需要。 學會查 PQL 與 CPK 對照表 只有 CPU 或 CPL 時﹐CPK=CPU 或 CPL →PQL 當 X=CL 時﹐CPK=CPU=CPL →PQL 當 X ≠CL 時 CPU+CPL →PQL 例﹕某零件的公差尺寸 USL=8-0.05mm,LSL=8-0.10mm.抽 100 件。經計算 X=7.925mm, δ=0.0082求, 該工序能力指數. 解﹕由題意知﹕ USL=8-0.05=7.95mm LSL=8-0.10=7.90mm CP= USL-LSL = 7.95-7.90 =1.02 6δ 6*0.0082 該工序質量保証情況尚可﹐但要適當注意。 文 件 編 號 SDW-TN-Q0001 版 本 第 4 頁，共 7 頁  0 日 期:12/22/2000 SPC 知識培訓 (二).控 制 圖 — 目的 1。了解控制圖的涵義和作用。 了解控制圖的原理及其作用方當。 學會觀察﹐分析和應用控制圖。 能應用統計的方法﹐分析不良的原因﹐尋找解決問題的對策。 二 范圍 適用于事業 8 部與品質活動相關的所有人員. 三 內 容 控制圖法是以控制圖形式﹐判斷和預報生產過程中質量狀況是否發生波動的一種質量控制的統計方法﹐它直接監視生產過程中的質量動態﹐具有穩定生產保証質量﹐積極預防的作用。 控制圖主要用途是判別生產過程是否處于穩定狀態. 控制圖分類及區別(依數據之性質分) X-R 計量控制圖的 X-δ X-R P chart 計數值控制圖 Pn chart X-R chart 樣本數 4≦N ≦10 樣本組數 15~25 X= ΣXi/N R=Xmax-Xmin R= ΣRi/N 控制限公式