电子科大《集成电路工艺》第十七章PPT课件.pptxVIP

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  • 2022-07-02 发布于四川
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电子科大《集成电路工艺》第十七章PPT课件.pptx

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1;17.1 引 言;3;半导体常用杂质;5;掺杂方式;具有掺杂区的CMOS结构;8;亚微米CMOS IC 制造厂典型的硅片流程模型;17.2 扩散; 扩散原理 固溶度 扩散机构 扩散方式 扩散工艺 扩散效应;17.2.1 扩散原理;1100℃硅中的固溶度;在间隙位置被转移的硅原子;杂质原子在半导体中扩散的方式有两种: 间隙式扩散:间隙式杂质原子在晶格的间隙位置间运动。 替位式扩散:替位式杂质原子依靠周围空的格点(即空位)来进行扩散。 如对硅而言, Au、Ag、Cu、Fe、Ni 等半径较小的杂质原子按间隙式扩散; P、As、Sb、B、Al、Ga、In 等半径较大的杂质原子按替位式扩散。;16;17;18;扩散过程中,杂质不断进入硅中,而表面杂质浓度保持不变 表面杂质浓度由该杂质在此温度下的固溶度决定: 边界条件1: N(0, t)= Ns 假定杂质在硅片内扩散的深度远小于硅片的厚度: 边界条件2: N(∞, t)= 0 在扩散开始时,硅片内没有杂质扩进,初始条件为: N(x, 0)= 0 x 0;x是由表面算起的垂直距离(cm),t 代表扩散时间(s);? 在一定扩散温度下,表面杂质浓度Ns为由扩散温度下的固溶度决定。 ? 扩散时间越长,扩散温度越高,扩散进硅片内的杂质数量就越多。对单位面积的半导体而言,在t 时间

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