ic半导体测试基础中文版.pdf

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实用标准 本章节我们来说说最基本的测试——开短路测试(Open-Short Test),说说测试的目的和 方法。 一.测试目的 Open-Short Test 也称为ContinuityTest 或Contact Test,用以确认在器件测试 时所有的信号引脚都与测试系统相应的通道在电性能上完成了连接,并且没有信号引脚与其 他信号引脚、电源或地发生短路。 测试时间的长短直接影响测试成本的高低,而减少平均测试时间的一个最好方法就 是尽可能早地发现并剔除坏的芯片。Open-Sho

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