EOS是如何发生的？它是如何导致IC失效的？.docxVIP

电源IC失效的分析和防止其发生的方案没有人喜欢IC失效，但这总是会发生。分析失效的根本原因是需要足够的 智慧的，在遇到难以重现的偶发性失效时就更是如此了。立锚科技已经累积 了大量的失效分析案例，我们发现绝大多数的问题都是发生在IC输入端的 电气过应力（EOS ） ±0 EOS是如何发生的呢？它又是如何导致IC失效的呢？本文将把一些答案告 诉你，一些可在设计和产品中应用的解决方案也将一并奉上。 了解Buck转换器IC的输入结构右图显示了 Buck转换器IC的基本电路构成和其中含有的ESD保护单元, 它们通常位于各个输入端子上。电源输入端的ESD单元特别大，可对内部 稳压器和MOSFET带来平安保护，防范高压ESD带来的伤害。ESD保护单 元的动作电压是与IC端子的绝对最高工作电压和IC的制程能够容许的最 高电压有关的。 VINEN VIN EN FB VINENFBBOOTSWESD和 VIN EN FB BOOT SW ESD（ Electro Static Discharge，静电放电沐口 EOS（ Electrical Over Stress z 电气过应力渚B会导致电压过应力 差异在于ESD的电压高、时间短（＜12） 而EOS的电压低（＜100V ）、时间长（通常＞12）。立锚科技的电源IC 的ESD单元是根据静电放电的人体模型（HBM ）和充电器件模型（CDM ） 进行设