ICT参数Debug SOP分析和总结.docx

ICT 参数 Debug SOP 目的： 为确保ICT 测试仪的有效性与准确度，提升产品品质的稳定性。 范围： 适用用工厂内所有的ICT 测试仪。 内容： 3-1.查看机台测试不良资讯，初步判断是ICT 硬件故障还是产品测试故障: 3-2.当开短路或元件不良无规律大批量出现时，执行仪器自检，诊断是否为 ICT 硬件故障。如果为仪器硬件故障，则需维修更换相应部件。 3-3.当同一测试针点反复出现不良时，首先检查排线与探针接触是否良好，然后打开 ICT 软件“探针检测”功能，用探棒接触测试探针，电脑显示正确针点号为 OK, 否则为探针/排线问题。探针不良，如氧化/变形/下沉等，须立即更换，排线接触不良，重新拔插不能解决问题时须更换排线. 3-4. 检测ICT 硬件和治具无问题后, 则判断为产品测试故障，根椐 BOM 表和原理图，查看产品有没有错件，漏件，MARK 有没有插反。然后用万用表量测确认是否为材料不良，不良品需送修。 3-5.确定 ICT 硬件/治具和产品均无问题后，则打开 ICT 软件“组件编辑”功能，根椐BOM 表和原理图修正元件测试参数： a.选择合理的测试模式和档位，适当的增加电流或电压，提高测试精度. b.当测试值不稳定时，可以加长延时，或增加测试次数,使测试值稳定。 对照原理图，查看是否有并联组件，当有并联元件时可以计算出并联后的 元件(Componets)元件值范围误差范围 元件(Componets) 元件值范围 误差范围(Toleraence Rang) 适当增加 guard 点，防止其它元件的影响。 根据测试值适当调整实际值和内缩 Toleraence，可提高测试精准度。 ICT 异常处理流程图: ICT ICT 测试异常 仪器硬件故障 产品测试故障 维修 ICT 部件 针床 产品 针点检测 排线检测 软件调试 不良产品送修 上限%(UCL) 下限%(LCL) 1~20Ω 30% 30% 20~300k 10% 10% 300k~3M 15% 15% 3M~40M 30% 30% N/A 30% 30% N/A 30% 30% 1uH~60uH 25% 25% 60uH~60H 20% 20% 5PF~300PF 20% 20% 300PF~3000PF 15% 15% 3000PF~3*109PF 10% 10% 3*109PF~4*1010PF 20% 20% 电阻三极管/MOS 管二极管电感/变压器 电阻 三极管/MOS 管 二极管 电感/变压器 电容 跳线，0 欧电阻：1JP 跳线 1-4JP 大电感，变压器 1-2JP 次级： 连接器，多绕组线圈 变压器初级 3-4JP 備注：所有电解电容的极性 ICT 不可侦测  版本 1.0 核准: 审核： 制作：卢怀斌