材料微观分析复习题.ppt

一、选择题;5. 可以提高TEM的衬度的光栏是（B ）。 A. 第二聚光镜光栏；B. 物镜光栏；C. 选区光栏；D. 其它光栏。 6. 如果单晶体衍射花样是正六边形，那么晶体结构是（ D ） A. 六方结构；B. 立方结构；C. 四方结构；D. A或B。 8. 仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是（ B ）。 A. 背散射电子；B. 二次电子；C. 吸收电子；D.透射电子。 9．透射电镜的两种主要功能：（ b ） （a）表面形貌和晶体结构 （b）内部组织和晶体结构 （c）表面形貌和成分价键 （d）内部组织和成分价键;11. X射线衍射方法中最常用的方法是（ b ）。 a.劳厄法；b．粉末多晶法；c．周转晶体法。 13. X射线物相定性分析方法中有三种索引，如果已知物质名时可以采用（ c）。 a．哈氏无机数值索引 ；b. 芬克无机数值索引；c. 戴维无机字母索引。 14. 能提高透射电镜成像衬度的可动光阑是（ b ）。 a．第二聚光镜光阑 ；b. 物镜光阑 ；c. 选区光阑。 15. 透射电子显微镜中可以消除的像差是（ b ）。 a．球差 ；b. 像散 ；c. 色差。 16. 可以帮助我们估计样品厚度的复杂衍射花样是（a ）。 a．高阶劳厄斑点 ；b. 超结构斑点；c. 二次衍射斑点。 17. 电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nm厚表层成分的信号是（ b ）。 a．背散射电子；b.俄歇电子 ；c. 特征X射线。;18. 中心暗场像的成像操作方法是（ c ）。 a．以物镜光栏套住透射斑；b．以物镜光栏套住衍射斑；c．将衍射斑移至中心并以物。 19. 对于面心立方晶体来说，下面（c ）个晶面可能会产生衍射斑点 a．（100）；b．（110）；c．（111）；d. (211) ;二、填空题： 1.电子衍射产生的复杂衍射花样是 高阶劳厄斑、超结构斑点、二次衍射、孪晶斑点和菊池花样。 2. 当X射线管电压超过临界电压就可以产生 连续谱 X射线和 特征谱 X射线。 3. 产生衍射的必要条件是 满足布拉格方程 ，充分条件是 衍射强度不等于0 。 4. 电磁透镜的像差包括球差、像散和色差。 6. 电子探针包括波谱仪和能谱仪两种仪器。 7. 今天复型技术主要应用于 萃取复型 方法来揭取第二相微小颗粒进行分析。 8. X射线管主要由 阳极、阴极、和 窗口 构成。; 德拜照相法中的底片安装方法有： 正装 、 反装 和 偏装 三种。 测钢中残余奥氏体的直接比较法就属于X射线物相分析方法中的 定量 分析方法。 透射电子显微镜的分辨率主要受 衍射效应 和 像差 两因素影响。 扫描电子显微镜常用的信号是 二次电子 和 背散射电子。;三、判断题;四、证明题： ;五、简答题;4.试述X射线衍射单物相定性分析的基本步骤？ 答：单相物质定性分析的基本步骤是： （1）计算或查找出衍射图谱上每根峰的d值与I值； （2）利用I值最大的三根强线的对应d值查找索引，找出基本符合的物相名称及卡片号； （3）将实测的d、I值与卡片上的数据一一对照，若基本符合，就可定为该物相。 5. 分别说明成像操作与衍射操作时各级透镜（像平面与物平面）之间的相对位置关系。 答：成像操作时中间镜是以物镜的像作为物成像，然后由投影镜进一步放大投到荧光屏上，即中间镜的物平面与物镜的像平面重合；衍射操作是以物镜的背焦点作为物成像，然后由投影镜进一步放大投到荧光屏上，即中间镜的物平面与物镜的背焦面重合。;9. 试简单说明电子束入射固体样品表面激发的主要信号、主要特点和用途。 答：主要有六种： 1)背散射电子:能量高；来自样品表面几百nm深度范围；其产额随原子序数增大而增多.用作形貌分析、成分分析以及结构分析。 2)二次电子:能量较低；来自表层5—10nm深度范围；对样品表面化状态十分敏感。 不能进行成分分析.主要用于分析样品表面形貌。 3)吸收电子:其衬度恰好和SE或BE信号调制图像衬度相反;与背散射电子的衬度互补。 吸收电子能产生原子序数衬度，即可用来进行定性的微区成分分析. 4)透射电子：透射电子信号由微区的厚度、成分和晶体结构决定.可进行微区成分分析。 5)特征X射线: 用特征值进行成分分析，来自样品较深的区域 6)俄歇电子:各元素的俄歇电子能量值很低；来自样品表面1—2nm范围。它适合做表面分析。;10．布拉格方程 2dsinθ=λ中的d、θ、λ分别表示什么？布拉格方程式有何用途？ 答：dHKL表示HKL晶面的面网间距，θ角表示掠过角或布拉格角，即入射X射线或衍射线与面网间的夹角，λ表示入射X射线的波长。 该公式有二个方面用途： （1）已知晶体的d值。通过测量θ，求特征X射线的λ，