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X 射线衍射在材料分析中的应用 一、X 射线的背景及衍射原理 1895 年,伦琴首次发现X 射线,随后由布拉格父子发现X 射线本质是波长很短的电磁波。 X 射线衍射技术是利用 X 射线在晶体、非晶体中衍射与散射效应，进行物相的定性和定量分析、结构类型和不完整性分析的技术。 由于 X 射线衍射分析方法具有用量少、对样品的非破坏性、大面积的平均性、对结构和缺陷的灵敏性等特性，使得 X 射线衍射分析方法的应用范围不断拓展， 广泛应用于物理学、化学、分子物理学、医学、药学、金属学、材料学、高分子科学、工程技术学、地质学、矿物学等学科领域。本文仅讨论X 射线衍射在材料分析中的一些应用。 材料分析是通过对表征材料的物理性质或物理化学性质参数及其变化 (称为测量信号或特征信息)的检测实现的。采用各种不同的测量信号(相应地具有与材料的不同特征关系)形成了各种不同的材料分析方法。 二、X 射线衍射方法 在各种衍射实验方法中 ,基本方法有单晶法、多晶法和双晶法。 单晶衍射法 单晶 X 射线衍射分析的基本方法为劳埃法与周转晶体法。 多晶衍射法 多晶 X 射线衍射方法包括照相法与衍射仪法。 三、理论依据 物相分析 ⑴ X 射线物相分析原理:任何结晶物质都有其特定的化学组成和结构参数 (包括点阵类型、晶胞大小、晶胞中质点的数目及坐标等)。当 x 射线通过晶体时， 产生特定的衍射图形，对应一系列特定的面间距 d 和相对强度 I／Il 值。其中 d 与晶胞形状及大小有关，I／I1 与质点的种类及位置有关。所以，任何一种结晶物质的衍射数据 d 和 I／I1 是其晶体结构的必然反映。不同物相混在一起时,它们各自的衍射数据将同时出现，互不干扰地叠加在一起,因此,可根据各自的衍射数据 来鉴定各种不同的物相。 ⑵ 物相分析是指确定材料由哪些相组成和确定各组成相的含量。物相是决定或影响材料性能的重要因素,因而物相分析在材料、冶金、机械等行业中得到广泛应用，物相分析有定性分析和定量分析两种。 ① 物相定性分析的目的是检测固体样品中的相组成 ,采用未知样品衍射图谱与标准图谱比较的办法。如果衍射图谱相同即可确定为该物相。但如果样品为多相混合试样时,衍射线条谱多,谱线可能发生重叠,就需要根据强度分解组合衍射图谱来确定。 判断一个物相是否存在有三个条件。第一，标准卡片中出现的峰的位置 ,样品谱中必须有相应的峰与之对应,即使 3 条强线对应得都非常好,但如果有另一条较强线位置没有明显出现衍射峰,也不能确定存在该相。第二,标准卡片的峰高强度比(即非最强衍射峰与最强衍射峰的峰高强度比)与样品峰的峰高强度比要大致相同,但一般情况下,对于金属块状样品,由于择优取向的存在,导致峰高强度比不一致,因此,峰高强度比仅可作参考。第三,检索出来的物相包含的元素在样品中必须存在。 ② 物相定量分析就是确定物质样品中各组成相的相含量。 介绍物相定量分析的计算方法 ⑴ K 值法,将刚玉(Al2O3)作为普适内标物。PDF 卡片上附加有的 RIR 值, 即是 K 值，是按样品质量与 Al2O3(刚玉)按 1∶1 的质量分数混合后测量的样品最强峰的积分强度除以(比)刚玉最强峰的积分强度,可写为: K A Al O K A ? ? K Al O I I A (1) 2 3 2 3 Al O 2 3 称为以刚玉为内标时 A 相的 K 值。 若一个样品中同时存在 A、B、C 等相,可以选用 A 相作为标样,通过 PDF 卡片查到每个相的 RIR 值,由此计算出以其中的A 相为内标物时样品中每相的K 值,即: K A K A ? Al O =12 3 =1 A K A Al O 2 3 K B K B ? Al O 2 3 (2) A K A Al O 2 3 K C K C ? Al O 2 3 A K A Al O 2 3 …… ⑵绝热法：绝热法由K 值法简化而来，如果一个系统中存在 N 个相，其中X 相的质量分数为：  X? = I X  （3） XiX K ?N I X i A K i i? A A 式中：A 可以是被选定的样品中的任意一相，i=A……，N 表示样品中有N 个相。 四、样品制备的原则 在粉晶衍射仪法中，样品制作上的差异，对衍射结果影响很大。因此，通常要求样品无择优取向(晶粒不沿某一特定的晶向规则地排列)，而且在任何方向中都应有足够数量的可供测量的结晶颗粒。 粉末粒度—般要求约 1-5um，定量相分析约在,用手搓无颗粒感即可。用量一般约为 1—2g，粉粒密度不同，用量稍有变化，以填满样品窗孔或凹槽为准。装填粉末样品时用力不可太大，以免形成粉粒的定向排列。用平整光滑的玻 璃板适当压紧，然后将高出样品板表面的多余粉末刮去，如此重复一两次即可， 使样品表面平整。若使用窗式样品