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实验三-控制系统的根轨迹分析 实验三-控制系统的根轨迹分析 PAGE PAGE 4 确定根轨迹与虚轴交点并确定系统稳定的根轨迹增益kr范围。 答：与虚轴交点为（0，+-1.63）和（0，+-2.56）；系统稳定的根轨迹增益24.1k35.9 num=[1,1];den=conv([1,0],conv([1,-1],[1,4,16])); rlocus(num,den); title(gk1根轨迹); [k,r]=rlocfind(num,den) 要求： 确定系统具有最大超调量时的根轨迹增益； 答：k=0.456 确定系统阶跃响应无超调时的根轨迹增益取值范围。 答：分离点为：（-1.27，0），无超调根轨迹范围：0~0.18 z=[-3]; p=[0,-2]; [num,den]=zp2tf(z,p,k); rlocus(num,den); title(gk3根轨迹); [k,r]=rlocfind(num,den) 绘出课本中各题作业的根轨迹。 4.2 (1) (2) (3) (4) 四、实验结论 根据绘制的各根轨迹，分析闭环极点在s平面上的位置与系统性能的关系。