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HAST(Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Test)测试技术规范 V1.2
拟制: 审核: 批准:
日期: 2019-11-12
历史版本记录
版本 时间 起草/修改人 内容描述
审核人 批准人
V1.0 2019-11-12
V1.1 2019-12-07
V1.2 2020-04-14
首次发布
1、第 3 章标题勘误
2、“适用范围”和2.2 节“电压拉偏”区分 uHAST 和 bHAST
电压拉偏,输入输出管脚的处理方式刷新
适用范围:
该试验检查芯片长期贮存条件下,高温和时间对器件的影响。本规范适用于量产芯片
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