一种碳化硅MOSFET体二极管VF可靠性的测试电路及测试设备.pdfVIP

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  • 2022-12-13 发布于四川
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一种碳化硅MOSFET体二极管VF可靠性的测试电路及测试设备.pdf

本实用新型涉及二极管VF测试技术,公开了一种碳化硅MOSFET体二极管VF可靠性的测试电路及测试设备,包括n组相互串联的测试单元,电流源;其测试单元包括碳化硅MOSFET体二极管,分别为Q1、Q2、…Qn;Q1的D端与电流源的负极连接,Q1的S端与Q2的D端连接,Q2的S端与Q3的D端连接,依次,Qn‑1的S端与Qn的D端连接,Qn的S端与电流源的正极连接。通过碳化硅MOSFET体二极管D端与电流源的负极连接;碳化硅MOSFET体二极管S端与电流源的正极连接;隔离电源模块负压加在MOSFET的G

(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 218003621 U (45)授权公告日 2022.12.09 (21)申请号 202221636242.6 (22)申请日 2022.06.27 (73)专利权人 派恩杰半导体(杭州)有限公司 地址

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