网站大量收购独家精品文档,联系QQ:2885784924

晶圆常见缺陷类型分析.doc

  1. 1、本文档共24页,其中可免费阅读8页,需付费200金币后方可阅读剩余内容。
  2. 2、本文档内容版权归属内容提供方,所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议,可选择认领,认领后既往收益都归您。
  3. 3、本文档由用户上传,本站不保证质量和数量令人满意,可能有诸多瑕疵,付费之前,请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形,可联系本站下载客服投诉处理。
  4. 4、文档侵权举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
查看更多
目录 晶圆常见缺陷类型分析 目录 摘要 PAGE 2 摘 要 在摩尔定律规定下,半导体工业在每18至24月就跨上一个新台阶,大量的资金投入 ,工程技术人员的使用高于工业界平均比例,这些导致了半导体生产高昂的分摊成本,加上激烈竞争使得产品价格持续下滑,驱使大部分芯片生产厂运行在一个大规模量产,高良品率的水平上。保持及提高良品率对半导体工业很重要,无论对于哪种工艺技术,高水平的工艺良品率是生产性能可靠的芯片并获得收益的关键所在。 抑制良品率的重要方面是有缺陷的晶圆一般是无法修复的。在某些情况下没有满足性能要求的晶圆被降级处理做低端应用。废弃的晶圆也可以发挥

文档评论(0)

***** + 关注
实名认证
内容提供者

乐于分享,有偿帮助。

版权声明书
用户编号:8070007123000004

1亿VIP精品文档

相关文档